[实用新型]一种笔记本电池老化测试用的支架结构有效
申请号: | 201920829185.5 | 申请日: | 2019-05-31 |
公开(公告)号: | CN210487812U | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 范丹青 | 申请(专利权)人: | 东莞市冠达自动化设备有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/392 |
代理公司: | 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 | 代理人: | 聂颖 |
地址: | 523290 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 笔记本电池 老化 测试 支架 结构 | ||
1.一种笔记本电池老化测试用的支架结构,包括安装架(1),其特征在于:所述安装架(1)的表面设置有插接孔(11),所述安装架(1)的下端设置有固定板(2),所述固定板(2)的表面设置有定位孔(21),所述安装架(1)的表面安装对称设置有滑动槽(17),所述滑动槽(17)的内侧滑动连接有导电销(12),所述导电销(12)的一端位于插接孔(11)的下端。
2.根据权利要求1所述的一种笔记本电池老化测试用的支架结构,其特征在于:所述安装架(1)的表面对称设置有安装块(13),安装块(13)的内侧转轴连接有导电折杆(15)。
3.根据权利要求1所述的一种笔记本电池老化测试用的支架结构,其特征在于:所述导电销(12)的表面设置有限位槽(14),限位槽(14)的内侧滑动连接有导电折杆(15),所述导电销(12)的一端表面连接有弹簧(16),弹簧(16)的另一端连接有安装架(1)。
4.根据权利要求1所述的一种笔记本电池老化测试用的支架结构,其特征在于:所述插接孔(11)的深度为型号:18650电池高度的三分之二。
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