[实用新型]一种清针台

说明书

本实用新型涉及一种清针台，所述清针台采用一体式结构，具体结构为：包括圆柱体结构的清针台本体，所述清针台本体的底部延伸有凸台，所述凸台的底部延伸有间隔设置的第一连接凸起和第二连接凸起，所述清针台本体的顶部安装有砂纸；还包括针卡，针卡的底部为针尖，所述针尖与砂纸对应。本实用新型结构紧凑、合理，操作方便，通过在原先的设备上，增加一个清针台，清针台采用一体式结构，其装配简便，成本低，配合设备的工作，可方便的实现对设备上的针卡针尖进行清理工作，将针尖的氧化物去除。大大提高了整机设备的工作可靠性，工作的连续性。

技术领域

本实用新型涉及清针装置技术领域，尤其是一种清针台。

背景技术

集成电路制造领域中，芯片测试是芯片制造业不可缺少的一个重要环节，针卡是芯片测试所必需的精密工具，针卡是一种测试接口，一般针卡的中部通孔处分布有垂直布置的探针，针卡通过连接测试机和芯片，对裸芯参数进行测试；具体测试时，是将针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触，引出芯片讯号；针卡应用在芯片尚未封装前，针对裸晶系以探针做功能测试，筛选出不良品，然后再进行之后的封装工程。因此，针卡是降低芯片制造成本的重要装置之一，且针卡探针状态的好坏直接影响着测试的质量和芯片制造成本。

然而，在日常的生产测试过程中，随着测试的进行，针卡扎针后会有部分污染物如碎屑、颗粒物粘附在探针的针壁或针尖上，另外也会产生氧化等现象。

现有技术中的芯片测试设备中，一些出厂配置较低硬件部位，没有配备清针装置，这样在测试生产中当针卡针尖扎针频次到一定的数量后针尖会产生氧化导致测试良率会变低。这个现象不仅仅造成测试产品的良率低，还会造成停机维修增加停机时间，增加作业员技术员的工作量，影响工作效率。

实用新型内容

本申请人针对上述现有生产技术中的缺点，提供一种结构合理的清针台，从而在原先的设备上增加清针台，实现设备自动完成清洁针卡针尖的动作，大大提高了整机的工作可靠性，避免停机维修的工作，提高工作效率。

本实用新型所采用的技术方案如下：

一种清针台，所述清针台采用一体式结构，具体结构为：包括圆柱体结构的清针台本体，所述清针台本体的底部延伸有凸台，所述凸台的底部延伸有间隔设置的第一连接凸起和第二连接凸起，所述清针台本体的顶部安装有砂纸；还包括针卡，针卡的底部为针尖，所述针尖与砂纸对应。

其进一步技术方案在于：

所述砂纸粘贴于清针台本体的顶面。

所述第一连接凸起的尺寸小于第二连接凸起。

还包括安装在设备上的托盘，所述托盘的底部设置有驱动其上升与下降的升降机构，所述托盘的上表面设置有与第一连接凸起和第二连接凸起对应的第一凹坑和第二凹坑。

所述第一凹坑和第二凹坑内部设置有磁铁。

清针台采用不锈钢材质。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型结构紧凑、合理，操作方便，通过在原先的设备上，增加一个清针台，清针台采用一体式结构，其装配简便，成本低，配合设备的工作，可方便的实现对设备上的针卡针尖进行清理工作，将针尖的氧化物去除。大大提高了整机设备的工作可靠性，保证工作的连续性。

本实用新型所述的针尖的动作，主要是在设备的托盘上，在托盘上安装清针台，驱动托盘的上下运动，在清针台表面粘贴的砂纸对针卡针尖进行接触，将氧化物去除。

本实用新型在原设备的本身增加了清针台，并配合升级后的设备系统进行完成定期清洁针卡，能够定期提前清洁针卡达到预防测试产品良率低，减少作业员技术员的工作量。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。