[实用新型]高精度尺寸自动化测量装置有效

专利信息
申请号: 201920861737.0 申请日: 2019-06-10
公开(公告)号: CN210346595U 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 谢水龙;谭海斌;韦仁胜 申请(专利权)人: 深圳精创视觉科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市龙华区龙华*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 高精度 尺寸 自动化 测量 装置
【说明书】:

本实用新型属于光学检测领域,尤其涉及多个磁铁(充磁)组合后的高精度尺寸自动化测量装置,包括机架以及设置在机架上的测量平台、位移模组以及控制模组,使用时将待测样品放置在测量平台中,控制模组控制位移模组带动测量模组进行Z轴方向位移,测量模组在Z轴方向位移过程中完成对测量平台中待测样品的尺寸测量,测量过程不必与待测样品接触,不会对待测样品表面造成划损,能够有效提高等待测样品的品质及使用性能,本实用新型可以实时得到精确的测量结果,自动化程度高,省时省力,人工成本低,节省大量人力物力,测量效率高,能够有效避免传统方式因人工测量导致的测量结果数据一致性差的缺陷,测量精度高,应用前景广阔。

技术领域

发明属于光学检测领域,尤其涉及多个磁铁(充磁)组合后的尺寸自动化测量装置。

背景技术

随着科学技术和工业生产的高速发展,人们对测量要求也越来越高,并开始向着高速、高精度、小型化、智能化等方面发展,尤其是在科技高速发展的今天,对零件尺寸测量速度要求越来越高。

在精密机械加工、自动化生产线、计量与检测等领域,测量占据了举足轻重的地位。在传统测量领域里,对于组装后的磁铁产品尺寸测量没有快速实用的解决办法,一般是以卷尺、钢尺等接触式测量为主,这种检测方式主要存在以下几种缺陷:(1)检测过程需要耗费大量人力物力,人工成本高,费时费力,检测效率低,无法进行快速在线测量,更无法根据在线测量结果对待测产品进行实时监控和调整,不能满足现代社会规模化生产要求;(2)检测精度低,测量数据对制程的反馈严重滞后,不利于组装后的待测产品品质的提升,而且传统的测量方式常常由于测量者不同得到的结果也不一样,测量结果的一致性很差,导致待测产品的质量不稳定;(3)检测范围有限,对于大尺寸的待测产品的测量,难以通过卷尺、钢尺等传统检测方式获得高精度的测量结果;(4)由于传统检测方式主要是通过接触式测量,而接触式测量效率比较低,自动化程度不高,且容易受到人工操作和实际加工环境的影响,准确性难以得到保证,同时在检测过程中容易对待测样品表面造成划损或减弱其磁性,影响磁铁产品的使用性能。

发明内容

本发明的目的是解决上述现有技术的不足,提供一种测量效率高、测量范围广、测量精度高、省时省力且不会对待测样品造成划损的高精度尺寸自动化测量装置。

本发明解决上述现有技术的不足所采用的技术方案是:

一种高精度尺寸自动化测量装置,其特征在于,包括:

机架,用于承载设置在其上的模组,所述机架上设有测量平台,所述测量平台上供承载待测样品;

测量模组,架设在所述测量平台上方,用于对测量平台中的待测样品进行尺寸测量,所述测量模组下方设有背光源;

位移模组,设置在所述测量平台上,用于驱动所述测量模组进行Z轴方向位移;

数据处理模组,电性连接所述测量模组,用于对所述测量模组测量到的待测图像数据进行计算处理;

所述测量模组、待测样品以及背光源的中心在Z轴共线。

优选的,所述测量模组是在所述测量平台上方架设有测量架,所述测量架上设有位移平台,所述位移平台上设有能够在所述位移平台的驱动下进行Z轴方向位移的取像元件,所述取像元件用于对所述测量平台中的待测样品图像进行采集。

优选的,所述位移平台包括第一位移平台和第二位移平台,且所述第一位移平台和第二位移平台相接设置在所述测量架上。

优选的,所述第一位移平台是在所述测量架上设有Z轴位移立柱,所述Z轴位移立柱上设有可沿其自由滑动的Z轴位移滑座,所述第二位移平台与所述Z轴位移滑座相连,所述取像元件可移动的设置在所述第二位移平台上。

优选的,所述取像元件是在所述位移平台上设有工业面阵相机,所述工业面阵相机前端设有远心成像镜头。

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