[实用新型]一种芯片测试的自定心结构

权利要求书

1.一种芯片测试的自定心结构，包括十字支撑架(1)，其特征在于：所述十字支撑架(1)的后端以及两侧均设有第一通孔(11)，所述十字支撑架(1)的前端两侧均设有第二通孔(12)，所述十字支撑架(1)的前端设有第三通孔(13)，所述第一通孔(11)上设有滚轮(14)，所述滚轮(14)上设有两个环形槽(141)，所述第二通孔(12)上设有转轴(15)，所述转轴(15)上设有摇臂(16)，所述摇臂(16)上设有圆孔(161)，所述第三通孔(13)上设有张开限位柱(17)，所述十字支撑架(1)的下方设有上卡盘(2)和下卡盘(3)，所述上卡盘(2)上设有芯片孔(21)，所述上卡盘(2)位于所述芯片孔(21)的位置处紧密焊接有挡块(211)，所述上卡盘(2)的一端设有第一摇臂孔(22)，所述上卡盘(2)的一端设有滚轮孔(23)，所述下卡盘(3)上设有异形孔(31)，所述下卡盘(3)的一端对称设有两个第二摇臂孔(32)，所述下卡盘(3)的下表面设有面板(4)，所述面板(4)上设有方形孔(41)，所述面板(4)的前端设有卡口(42)，所述面板(4)的后端设有滚轮活动孔(43)，所述面板(4)的后端对称设有两个限位孔(44)，所述限位孔(44)内设有闭合限位柱(441)。

2.根据权利要求1所述的芯片测试的自定心结构，其特征在于：所述转轴(15)的顶端与所述第二通孔(12)插接配合，所述转轴(15)的底端通过所述圆孔(161)与所述摇臂(16)转动连接。

3.根据权利要求1所述的芯片测试的自定心结构，其特征在于：位于所述十字支撑架(1)后端的滚轮(14)穿过所述滚轮孔(23)、异形孔(31)和滚轮活动孔(43)，且所述上卡盘(2)和所述面板(4)均通过所述环形槽(141)与所述滚轮(14)卡接配合。

4.根据权利要求1所述的芯片测试的自定心结构，其特征在于：位于所述十字支撑架(1)两侧的滚轮(14)均通过所述环形槽(141)与所述上卡盘(2)和下卡盘(3)的两侧卡接配合。

5.根据权利要求1所述的芯片测试的自定心结构，其特征在于：所述摇臂(16)穿过所述第一摇臂孔(22)和所述第二摇臂孔(32)。

6.根据权利要求1所述的芯片测试的自定心结构，其特征在于：所述张开限位柱(17)的底端穿过所述上卡盘(2)和下卡盘(3)，所述张开限位柱(17)通过所述卡口(42)与所述面板(4)卡接配合。

7.根据权利要求1所述的芯片测试的自定心结构，其特征在于：所述闭合限位柱(441)的顶端穿过所述限位孔(44)和所述异形孔(31)与所述上卡盘(2)的下表面紧密焊接。

8.根据权利要求1所述的芯片测试的自定心结构，其特征在于：所述十字支撑架(1)的上表面紧密焊接有圆柱(18)。