[实用新型]一种用于集成电路测试的芯片转换插座

权利要求书

1.一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：包括插座装置（100）和压紧装置（200），所述插座装置（100）包括两个插接板（110）、两个连接板（120）和插柱（130），两个所述插接板（110）之间通过两个所述连接板（120）熔接固定，所述插接板（110）的底部插接两个所述插柱（130），所述插接板（110）的右侧壁通过旋转轴（112）安装有插销（111），所述插接板（110）的左侧壁开有销孔（113），相邻的两个所述插座装置（100）之间通过所述插销（111）与所述销孔（113）连接，所述插接板（110）的顶部开有凹型槽（140）和定位孔（150），所述凹型槽（140）的内腔底部镶嵌有金属片（141），所述金属片（141）与所述插柱（130）连通，所述定位孔（150）位于两个所述凹型槽（140）的中间位置，所述压紧装置（200）通过合页（211）安装于所述插座装置（100）的顶部，所述压紧装置（200）包括压板（210）和橡胶块（220），所述压板（210）的一侧壁开有安装槽，所述橡胶块（220）镶嵌于所述安装槽中，所述压板（210）安装所述橡胶块（220）的侧壁通过熔接固定有定位柱（212）。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述定位柱（212）与所述定位孔（150）配合连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述插接板（110）的右侧壁开有储存槽，所述插销（111）通过所述旋转轴（112）位于所述储存槽中。

4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：两个所述连接板（120）沿着所述插接板（110）的中轴线对称分布。