[实用新型]一种芯片测试工作台

权利要求书

1.一种芯片测试工作台，其特征在于，包括支座和多个驱动下压部；多个驱动下压部并列安装在所述支座上；所述驱动下压部的下端连接有串口面板，所述串口面板接有芯片测试串口，所述串口面板的下方设有芯片固定件，所述芯片固定件设有与所述芯片测试串口位置对应的用于固定芯片的固定槽，所述串口面板的左侧和/或右侧设有用于避免所述串口面板上下运动产生偏移的伸缩杆，所述伸缩杆的末端与所述支座连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述串口面板的左侧和右侧均设有伸缩杆。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述驱动下压部包括固定座、把手和滑动杆；所述固定座的下端设有固定环，所述滑动杆穿过固定环，所述滑动杆的下端接有所述串口面板；所述把手的末端铰接在固定座的上端，所述把手的中部通过连接件与所述滑动杆活动连接，带动所述滑动杆上下运动。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述连接件的一端与所述把手的中部铰接，另一端与所述滑动杆铰接。

5.根据权利要求3所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述支座包括底座和竖立在所述底座上的支撑板。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试工作台，其特征在于，所述固定座安装在所述支撑板上，所述伸缩杆的末端与所述底座连接，所述芯片固定件设置在所述底座上。