[实用新型]发光器件寿命测试装置

说明书

本实用新型实施例公开了一种发光器件寿命测试装置。发光器件寿命测试装置包括测试载板和滑动组件，滑动组件设置于测试载板上且与测试载板滑动连接，滑动组件包括多个沿测试载板的长度方向依次排列的用于容置发光器件的可调容置槽，发光器件的引脚与测试载板电性连接。本实用新型的发光器件寿命测试装置测试便捷，并能减少发光器件损坏。

技术领域

本实用新型实施例涉及电子元件测试领域，尤其涉及一种发光器件寿命测试装置。

背景技术

发光二极管(Light Emitting Diode，LED)是一种以半导体芯片为发光材料的固体发光器件。利用半导体材料形成PN结，在外加电场的情况下，通过注入电子空穴复合发光，直接将电能转换成光能。

在评价LED器件性能的时候，寿命测试是其重要的一个环节。一般来说，LED器件的寿命测试(也称为老化测试)是采用高压驱动，使流经LED器件的电流大于其正常工作的电流，测试其在长时间点亮情况下光电参数变化的方式而进行的。高压耐受驱动测试方式可以在较短的时间内检测出LED器件在长期点亮状态下，它的光通量、色温、电压等关键工作参数的变化情况，是有效地评价LED器件性能优劣的方式。

目前，测试单颗LED器件寿命时，需找对应LED器件尺寸的FPC板，通过打成整条灯条(Light Bar)，再统一固定在一个承载板上。采用这种寿命测试方式，灯条经过长时间的高温，容易从承载板上脱落至试验台，使LED器件损坏，导致寿命测试实验重做。而且，每次从灯条上取放LED器件进行光学性能测试，操作不便。

实用新型内容

本实用新型提供一种发光器件寿命测试装置，测试便捷，并能减少发光器件损坏。

本实用新型解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。

一种发光器件寿命测试装置，包括测试载板和滑动组件，所述滑动组件设置于所述测试载板上且与所述测试载板滑动连接，所述滑动组件包括多个沿所述测试载板的长度方向依次排列的用于容置发光器件的可调容置槽，所述发光器件的引脚与所述测试载板电性连接。

进一步地，所述测试载板包括正电极条和负电极条，所述测试载板上开设有第一凹槽，所述正电极条和所述负电极条铺设于所述第一凹槽的槽底，所述发光器件的引脚与所述正电极条和所述负电极条电性连接。

进一步地，所述滑动组件包括多个组成所述可调容置槽的挡板，相邻两个所述挡板相对的侧壁和与所述测试载板接触的底部设有金属层，所述金属层与所述测试载板电性连接。

进一步地，还包括弹力组件和固定件，所述弹力组件和所述固定件设置于所述测试载板上且分别与所述滑动组件的两端连接。

进一步地，所述滑动组件位于所述第一凹槽内，所述滑动组件与所述第一凹槽的侧壁滑动连接。

进一步地，还包括底座，所述底座上设有开关和电源接口，所述开关与所述电源接口电性连接，所述底座上开设有至少一个第二凹槽，所述测试载板设置于所述第二凹槽内，所述测试载板的第一端与所述第二凹槽的第一端活动连接，所述测试载板通过所述开关与所述电源接口电性连接。

进一步地，所述底座上还设有电流调节器，所述电流调节器通过所述开关与所述电源接口电性连接。

进一步地，还包括导向杆，所述导向杆的第一端与第二端之间设有滑轨，所述导向杆的第二端与所述第二凹槽的第二端活动连接，所述测试载板的第二端与所述滑轨配合运动。

进一步地，所述导向杆包括顶板和两个相对的侧板，所述顶板连接两个所述侧板，两个所述侧板上分别设有所述滑轨，所述测试载板容置于两个所述侧板之间。

进一步地，还包括保护罩，所述保护罩设于所述发光器件的上方。

本实用新型的有益效果在于：