[实用新型]可兼容各类功率半导体测试设备的器件转换座

说明书

本实用新型公开了可兼容各类功率半导体测试设备的器件转换座，包括塑料底座、塑料上壳、功率半导体测试座、开尔文测量结构、上PCB板和下PCB板，所述塑料底座的内部设置有下PCB板，且下PCB板下方的塑料底座内部固定有测量板，所述测量板的底部设置有六个开尔文测量结构，所述塑料底座的顶端设置有塑料上壳，所述塑料上壳的内部固定有上PCB板，所述塑料上壳的顶端设置有功率半导体测试座，所述固定螺栓外侧的塑料底座表面皆设置有快装机构。本实用新型不仅避免了功率半导体测试设备在安装后发生松脱现象，延长了器件转换座内部元件的使用周期，而且避免了器件转换座使用时发生挤压和形变情况。

技术领域

本实用新型涉及器件转换座技术领域，具体为可兼容各类功率半导体测试设备的器件转换座。

背景技术

目前，器件转换座主要的组成部件有塑料底座、塑料上壳、功率半导体测试座、开尔文测量结构、上PCB板以及下PCB板等，而其中的半导体器件测试座，一般有D-PAK、D2PAK、SOT、SOP、DFN等在内的各类封装形式的测试座。

通常器件转换座在使用时一般在对于功率半导体测试座的安装较为繁琐，而且安装后的固定不够牢靠，从而很容易导致功率半导体测试座发生松脱现在，还有些器件转换座在使用时未设置密封功能，很容易导致器件转换座内部的元件发生损坏现象，从而缩短了器件转换座的使用周期，甚至有些通常采用普通电器盒进行开孔加工6Pins开尔文测量结构，由于加工误差，容易发生尺寸错误，造成转换座插入设备孔位时接触柱体的形变和挤压情况。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供可兼容各类功率半导体测试设备的器件转换座，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：可兼容各类功率半导体测试设备的器件转换座，包括塑料底座、塑料上壳、功率半导体测试座、开尔文测量结构、上PCB板和下PCB板，所述塑料底座的内部设置有下PCB板，且下PCB板下方的塑料底座内部固定有测量板，所述测量板的底部设置有六个开尔文测量结构，且开尔文测量结构的底部皆延伸至塑料底座的外部，所述塑料底座的顶端设置有塑料上壳，且塑料上壳与塑料底座之间通过螺钉相互螺纹连接，所述塑料上壳的内部固定有上PCB板，所述塑料底座与塑料上壳的边缘位置处皆固定有密封框，且塑料上壳表面的密封框内部皆设置有上封框，并且上封框的底部皆设置有紧固卡槽，所述塑料上壳的顶端设置有功率半导体测试座，且功率半导体测试座的底部延伸至塑料上壳的内部并与上PCB板相互配合，所述功率半导体测试座顶部的两侧皆设置有固定螺栓，且固定螺栓的底端贯穿功率半导体测试座并与塑料上壳的表面螺纹连接，所述固定螺栓外侧的塑料底座表面皆设置有快装机构。

优选的，所述塑料底座表面的密封框内部设置有下封框，且下封框的顶端设置有紧固卡条，并且紧固卡条与紧固卡槽相互配合。

优选的，所述快装机构的内部依次设置有紧压螺杆、立座、上压片、紧压盘以及下压片，所述塑料上壳顶部的两端皆固定有立座，且立座一侧的外壁上螺纹连接有紧压螺杆，并且紧压螺杆的一端贯穿立座并铰接有紧压盘。

优选的，所述紧压盘的顶端铰接有上压片，且上压片的底部与功率半导体测试座的表面紧密贴合，所述紧压盘的底部铰接有下压片，且下压片到紧压螺杆中轴线的垂直距离大于上压片到紧压螺杆中轴线的垂直距离。

优选的，所述开尔文测量结构外侧的塑料底座表面皆设置有透明指示盘，且透明指示盘底部的中心位置处设置有环形置槽，所述环形置槽的内部固定有触碰感应灯环，且触碰感应灯环底部所在的平面与透明指示盘底部所在的平面共面。

优选的，所述测量板底部的拐角位置处皆螺纹连接有紧固螺丝，且紧固螺丝的顶部贯穿测量板并与下PCB板固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该可兼容各类功率半导体测试设备的器件转换座不仅避免了功率半导体测试设备在安装后发生松脱现象，延长了器件转换座内部元件的使用周期，而且避免了器件转换座使用时发生挤压和形变情况；