[实用新型]一种探针测试装置

说明书

本实用新型实施例提供了探针测试装置，该探针测试装置包括至少两个机械臂，各机械臂上均设置有测试探针和位置检测传感器，位置检测传感器能够检测到待测样品的测试点位置，以使控制模块控制各机械臂带动各自的测试探针移动至待测样品的不同测试点位置，并对待测样品的不同测试点输入相应的测试电压，以实现对待测样品的测试。本实用新型实施例提供的探针测试装置具有简单的结构，能够对待测样品的测试点进行自动识别定位，便于对待测样品性能的获取，从而简化测试方法，提高测试效率。

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种探针测试装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)器件具有节能、结构简单等特点，而被广泛应用于相应的产品中。例如OLED显示面板，其具有对比度高、厚度薄、视角光、反应速度快等优点。

现有的OLED产品包括阴极、阳极、位于阴极和阳极之间的发光层以及薄膜封装层等。为确保OLED产品具有相应的性能，需在OLED产品制备过程中以及完成OLED产品的制备后对OLED的发光性能进行测试。例如通过对硅基OLED显示面板中的测试点进行OLED的点亮测试，以获得OLED显示面板中OLED器件的发光性能。现有技术中，采用压接式的测试装置对OLED产品进行测试。在对OLED产品进行测试时，通过将待测试的OLED产品固定在测试平台，并通过压接式的测试装置中设置有测试探针的治具盖子压下，以使治具盖子上的测试探针与OLED产品上的测试点接触，并通过其它的光学仪器检测OLED产品中OLED器件的发光特性。

但是，采用现有的压接式的测试装置对OLED产品进行测试时，为使测试探针与OLED产品上的测试点接触，需要将治具盖子压下。如此，压接式的测试装置的治具盖子会将OLED产品遮挡住，如此将无法观测到OLED产品中OLED器件的发光情况，不利于光学仪器对OLED器件发光特性的检测。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种探针测试装置，以解决现有技术中对OLED产品进行测试时，遮挡OLED产品上的OLED器件，不利于OLED发光特性的检测的技术问题。

本实用新型实施例提供了一种探针测试装置，包括：控制模块、测试平台和至少两个机械臂；

所述测试平台用于承载和固定待测样品；

所述机械臂上设置有位置检测传感器和测试探针；所述位置检测传感器用于检测所述待测样品的测试点位置；所述测试探针在所述机械臂的带动下移动；

所述机械臂的控制端与所述控制模块的第一控制端连接，所述位置检测传感器的输出端与所述控制模块的输入端连接；所述控制模块控制所述机械臂带动所述测试探针移动至所述待测样品的测试点位置；且各所述机械臂上的所述测试探针对应的所述待测样品的测试点位置不同；

所述测试探针的控制端与所述控制模块的第二控制端连接；所述控制模块通过所述测试探针对所述待测样品的测试点位置输入测试电压。

可选的，所述测试平台上设置有外接电源连接端口、机械臂控制按钮和探针通电测试按钮；

所述外接电源连接端口连接外部电源；

所述机械臂控制按钮控制所述机械臂的启停；

所述探针通电测试按钮控制所述控制模块通过所述测试探针对所述待测样品的测试点位置输入测试电压。

可选的，所述装置包括两个所述机械臂；两个所述机械臂设置于测试平台上；

所述测试平台上设置有平台托盘；两个所述机械臂分别位于所述平台托盘的两侧。

可选的，所述机械臂的第一端设置于所述测试平台上，所述位置检测传感器和所述测试探针设置于所述机械臂的第二端。