[实用新型]一种物体三维形貌测量装置有效

专利信息
申请号: 201920937394.1 申请日: 2019-06-20
公开(公告)号: CN209820424U 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 李勇;魏一振;张卓鹏 申请(专利权)人: 杭州光粒科技有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 33235 杭州华知专利事务所(普通合伙) 代理人: 张德宝
地址: 310012 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 被测物体 阴影图案 三维形貌测量装置 本实用新型 变形图案 三维测量 支撑架 投影成像光学系统 物体表面形貌 平面反射镜 测量成本 模板设置 三维形貌 外界阳光 相机拍摄 预设图案 光源 投影 双目 照射 相机 野外 测量 覆盖
【权利要求书】:

1.一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,包括:模板、支撑架和相机,所述模板设置于所述支撑架上,所述模板具有预设图案,其用于接收外界阳光的照射并在相对侧形成阴影图案,所述阴影图案投影在被测物体上,所述相机拍摄被所述阴影图案覆盖的被测物体以得到对应的变形图案,基于所述变形图案对所述被测物体的三维形貌进行测量。

2.根据权利要求1所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述物体三维形貌测量装置还包括:至少一个反射镜,沿光线传播方向,至少一个反射镜设置于所述模板的前端,通过至少一个反射镜改变阳光的照射路线,并使改变后的阳光照射在具有预设图案的模板上。

3.根据权利要求1所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述物体三维形貌测量装置还包括:至少一个反射镜,沿光线传播方向,至少一个反射镜设置于所述模板与被测物体之间,通过至少一个反射镜改变所述阴影图案的投影路线,并使改变后的阴影图案投影在所述被测物体上。

4.根据权利要求1所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述物体三维形貌测量装置还包括:至少两个反射镜,沿光线传播方向,第一部分反射镜设置于所述模板的前端,通过第一部分反射镜改变阳光的照射路线,并使改变后的阳光照射在具有预设图案的模板上;第二部分反射镜设置于所述模板与被测物体之间,通过第二部分反射镜改变所述阴影图案的投影路线,并使改变后的阴影图案投影在所述被测物体上。

5.根据权利要求2至4任意一项所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述反射镜设置于所述支撑架上。

6.根据权利要求5所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述物体三维形貌测量装置还包括云台,所述模板和/或所述反射镜通过所述云台设置于所述支撑架上。

7.根据权利要求6所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述物体三维形貌测量装置还包括电控旋转台,所述反射镜设置于所述电控旋转台,所述电控旋转台设置于所述云台上,通过所述电控旋转台控制所述反射镜旋转。

8.根据权利要求1所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述预设图案为散斑图案、正弦条纹图案、周期性栅栏图案的一种或几种。

9.根据权利要求1所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述相机为两个,且两个相机之间的间距根据人眼瞳距来设定。

10.根据权利要求1所述的一种物体三维形貌测量装置,其特征在于,所述物体三维形貌测量装置采用傅里叶变换轮廓术和/或相移法对被测物体进行三维形貌测量。

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