[实用新型]一种功率晶体管的老化装置

说明书

本实用新型公开了一种功率晶体管的老化装置，属于晶体管老化技术领域，包括壳体、老化机构、承托机构和温度控制机构，壳体内设有老化腔，壳体的前端设有箱门，老化机构包括固定板和分隔板，分隔板呈水平设置在老化腔内且分隔板的中部设有连接孔，固定板位于连接孔处且固定板的前端与分隔板的下端铰接，固定板的上端设有电路板，固定板的下端设有若干个晶体管老化测试座，所有晶体管老化测试座均与电路板电性连接。本实用新型通过温度控制机构、加湿喷头和作动器的配合工作能够改变晶体管老化的环境，能够对晶体管进行高温存储、高低温冲击、高温功率老化、机械震动、湿热检测，本实用新型对晶体管的老化检测更加全面，且方便操作。

技术领域

本实用新型涉及晶体管老化技术领域，尤其是涉及一种功率晶体管的老化装置。

背景技术

晶体管的老化是使晶体管处于饱和的工作状态下，并相应的改变环境条件，使得晶体管存在的缺陷被放大暴露出来，从而将不良的晶体管淘汰掉。

中国专利号为CN201821282242.4公布了晶体管物理老化测试设备，包括检测槽，所述检测槽的外壁上固定有电源机构，所述检测槽的上侧壁固定连接有L型杆，所述L型杆远离检测槽的一端下侧壁固定有伸缩杆，所述伸缩杆的驱动端竖直向下固定连接有隔热板，所述隔热板的下侧壁粘接有安装板，所述安装板的下侧壁开设有多个与晶体管过盈配合的插口，每个所述插口内均倒装有晶体管，每个所述晶体管的连接端均延伸至隔热板的上侧，所述检测槽的内部设有加热机构，所述检测槽的外壁上设有测试装置。本实用新型通过对晶体管在高温环境中的电流、电压和功率的变化进行检测分析，加温和检测同步进行，检测过程更加简便，结果更加准确。

但是，上述专利在使用时还存在以下的不足之处。第一，上述专利只能通过升高温度检测晶体管在高温下的工作状态，但是，晶体管在军工业、航天航空业以及采用业中使用时，由于其使用环境恶劣，因此上述专利中的检测形式单一无法满足晶体管的进一步完善的老化分拣，第二，上述专利在使用时由于安装板和塑料套均安装在内部，因此在取放晶体管时存在不便之处，不方便使用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种功率晶体管的老化装置，以解决现有技术中晶体管老化功能不完善且使用不便的技术问题。

本实用新型提供一种功率晶体管的老化装置，包括壳体、老化机构、承托机构和温度控制机构，所述壳体内设有老化腔，所述壳体的前端设有箱门，所述老化机构和承托机构分别安装在老化腔的上端和下端，所述温度控制机构设置在壳体的后部且温度控制机构与老化腔连通，所述老化机构包括固定板和分隔板，所述分隔板呈水平设置在老化腔内且分隔板的中部设有连接孔，所述固定板位于连接孔处且固定板的前端与分隔板的下端铰接，所述固定板的上端设有电路板，所述固定板的下端设有若干个呈矩阵分布的晶体管老化测试座，所有晶体管老化测试座均与电路板电性连接。

进一步，所述壳体的内侧壁上设有卡槽，所述分隔板与卡槽卡接配合，所述卡槽内位于分隔板的上下两端均设有减震垫，所述分隔板的上端设有固定支架，所述老化腔的顶部设有与壳体固定连接的作动器，所述作动器的输出端与固定支架的上端固定连接。

进一步，所述固定板的上端设有与连接孔相配合的密封条。

进一步，所述承托机构包括承托板、两个驱动杆和四个导杆，四个所述导杆均呈竖直设置在老化腔内，所述承托板上设有四个与导杆滑动配合的导孔，两个驱动杆呈竖直设置在老化腔的两侧，且两个驱动杆的上部均设有驱动螺纹，所述承托板的两侧均设有与驱动螺纹相配合的驱动螺孔，两个所述驱动杆的下端均套设有驱动轮，两个驱动轮之间通过皮带传动连接，其中一个驱动杆的下端设有与其固定连接的驱动电机。

进一步，所述温度控制机构包括通风管道、控制箱和风扇，所述控制箱安装在壳体的后部，且控制箱与壳体之间通过通风管道相连通，所述风扇安装在通风管道内，所述控制箱内设有加热片，所述控制箱的底部设有制冷压缩机，所述控制箱和壳体之间设有循环管，所述老化腔内设有温度传感器。