[实用新型]一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪

说明书

本实用新型公开了一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪，属于检测技术领域，包括荧光检测池，所述荧光检测池一侧安装有第一透镜，所述第一透镜一侧安装有滤光片，所述滤光片一侧安装有疝灯，所述荧光检测池另一侧安装有消光器，所述荧光检测池顶部一侧安装有第二透镜，所述第二透镜一侧安装有狭缝，所述狭缝一侧安装有光栅，所述光栅顶部一侧安装有准直镜，所述准直镜一侧安装有反射镜，所述光栅一侧安装有微镜阵列。本实用新型采用数字微镜DMD作为阿达玛编码模板，并利用FPGA和NXP单片机相结合，实现1024个码元模板信号的产生、移动等控制，以此为核心，构建了一个结构紧凑、体积小巧的可见光光谱仪。

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，尤其涉及一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪。

背景技术

GT200项目微镜阵列阿达玛技术是应用在传统的分光光度计基础上的创新的。

传统的阿达玛变换多参数检测仪在使用时，光谱检测范围较窄，导致检测的样品物质种类低，并且信噪比低，精度低，体积大，不适合野外现场分析使用。为此，我们提出一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪。

实用新型内容

本实用新型提供一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪，采用数字微镜DMD作为阿达玛编码模板，并利用FPGA和NXP单片机相结合，实现1024个码元模板信号的产生、移动等控制，以此为核心，构建了一个结构紧凑、体积小巧的可见光光谱仪。

本实用新型提供的具体技术方案如下：

本实用新型提供的一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪，包括荧光检测池，所述荧光检测池一侧安装有第一透镜，所述第一透镜一侧安装有滤光片，所述滤光片一侧安装有疝灯，所述荧光检测池另一侧安装有消光器，所述荧光检测池顶部一侧安装有第二透镜，所述第二透镜一侧安装有狭缝，所述狭缝一侧安装有光栅，所述光栅顶部一侧安装有准直镜，所述准直镜一侧安装有反射镜，所述光栅一侧安装有微镜阵列，所述反射镜一侧安装有透镜组，所述透镜组顶部一侧安装有PMT检测器。

可选的，所述微镜阵列一侧安装有DMD微镜控制器，所述PMT检测器一侧安装有信号处理器。

可选的，所述疝灯顶部一侧安装有控制器，所述PMT检测器顶部一侧安装有主控制器。

可选的，所述主控制器顶部一侧安装有通讯接口，所述通讯接口一侧安装有计算机。

可选的，所述主控制器通过导线分别与DMD微镜控制器、信号处理器、控制器和通讯接口电性相连，所述控制器通过导线与疝灯电性相连，所述信号处理器通过导线与PMT检测器电性相连，所述通讯接口通过导线与计算机电性相连。

本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型首先光机部分的疝灯光源发出的连续波长可见光经第一透镜射到荧光检测池上的待检测物品上，待测光谱信号经第二透镜入射狭缝，然后由球面准直镜成平行光后反射到光栅处发生衍射，经反射镜反射到微镜阵列上，微镜每个微小单元分别与不同波长光谱相对应，在外部电路DMD微镜控制器的控制下，按照阿达玛循环编码方式，所有波长的光谱被微镜进行光学调制，经调制后的光线被球面镜准直后再次经过光栅产生二次衍射，二次衍射的目的是让第一次衍射后按波长发散的光重新混叠到一起，最后被聚焦至PMT检测器上。

2、电路部分上的微镜驱动板主要接受FPGA控制命令，控制每个微镜单元的偏转角度，组合成不同的阿达玛模板编码方式，并且检测器板主要功能为光信号的采集、放大和A/D转换；同时控制板主要功能有下面几项：控制光源的强度触发微镜的偏转触发检测器的信号采集样品池温度检测及控制；上位机通讯；校准电机的控制反馈信号的检测。

附图说明