[实用新型]一种新型锗基片有效

专利信息
申请号: 201920968277.1 申请日: 2019-06-25
公开(公告)号: CN209992700U 公开(公告)日: 2020-01-24
发明(设计)人: 王兴明 申请(专利权)人: 王兴明
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20;G02B1/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 341000 江西省赣*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 锗基片 附着力 本实用新型 光学薄膜 平面度 平行度 上表面 下表面 有效地 抛光 倒角 倒棱 封装 侧面
【权利要求书】:

1.一种新型锗基片,其特征在于:包括有方形锗基片(1),所述方形锗基片(1)上表面、下表面与侧面之间分别设有倒棱边(2),所述方形锗基片(1)四个角为倒角(3),所述方形锗基片(1)外表面的平面度优于633纳米、平行度优于2秒。

2.根据权利要求1所述的一种新型锗基片,其特征在于:所述方形锗基片(1)由光学级锗单晶组成。

3.根据权利要求1所述的一种新型锗基片,其特征在于:所述倒棱边(2)角度为45度,宽度范围为0.07毫米-0.15毫米,不均匀性小于0.02。

4.根据权利要求1所述的一种新型锗基片,其特征在于:所述倒角(3)角度为45度,宽度范围为0.07毫米-0.15毫米。

5.根据权利要求1所述的一种新型锗基片,其特征在于:所述倒棱边(2)和方形锗基片(1)侧面粗糙度分别为Ra小于0.04。

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