[实用新型]一种接插件检测治具

说明书

本实用新型涉及一种接插件检测治具，包括固定底座、探针导套以及探针，所述固定底座包括下压块、连接块和椭圆柱筒，所述固定底座上设有倒钩，所述倒钩通过圆柱销与连接块活动连接，所述倒钩上还设有弹簧，所述弹簧的两端分别与倒钩和椭圆柱筒固定连接，所述下压块通过第一锁紧螺钉与连接块固定连接，所述探针导套通过第二锁紧螺钉与椭圆柱筒上端面固定连接，所述探针导套上设有针孔，所述探针与椭圆柱筒上的圆柱套筒配合连接。本实用新型结构简单，可拆卸更换，方便检修，可很好的保护产品表面不出现划痕现象，避免检测对产品表面带来磨损，且有利于节约生产成本。

技术领域

本实用新型涉及一种治具技术领域，具体涉及一种接插件检测治具。

背景技术

接插件在电子元器件完成生产后，需要对接插件进行检测是否导通。

现有的对于接插件的检测方法是通过两侧压紧式的硬性接触方法，即直接将待检测产品伸入两个弹性导电片之间，然后将弹性导电片撑开一定距离再进行检测，这样的方式显然会增大对产品的磨损度，使得产品表面出现划痕，另外，检测治具里的检测元件不可拆卸更换，不易检修，一旦有零件损坏就面临整体报废的后果，造成极大程度上的浪费生产成本。

实用新型内容

本实用新型的目的是：提供一种接插件检测治具，结构简单，利用端接触的检测方法，使得待检测产品不会发生相对滑动，因此不会对产品表面造成划痕，而且可拆卸更换，方便检修，有利于节约生产成本。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下的技术方案：

一种接插件检测治具，包括固定底座、探针导套以及探针，所述固定底座包括下压块、连接块和椭圆柱筒，所述固定底座上设有倒钩，所述倒钩通过圆柱销与连接块活动连接，所述倒钩上还设有弹簧，所述弹簧的两端分别与倒钩和椭圆柱筒固定连接，所述下压块通过第一锁紧螺钉与连接块固定连接，所述探针导套通过第二锁紧螺钉与椭圆柱筒上端面固定连接，所述探针导套上设有针孔，所述探针与椭圆柱筒上的圆柱套筒配合连接。

进一步地，所述连接块的截面呈C形。

进一步地，所述椭圆柱筒的大小与连接块的内腔相适应，且所述椭圆柱筒的高度高于连接块的高度。

进一步地，所述探针导套的大小与椭圆柱筒的大小相适应。

进一步地，所述探针的高度低于探针导套的高度，且探针的针头为圆柱状。

进一步地，所述针孔的数量为若干个，且所述针孔阵列排布于探针导套上。

进一步地，所述圆柱套筒的位置与针孔的位置相对应。

进一步地，所述倒钩与连接块的开口形状相配合，且所述倒钩的高度高于连接块开口的高度。

进一步地，所述弹簧的数量为两个，且沿倒钩竖直方向阵列于圆柱销下方位置。

本实用新型的有益效果为：一种接插件检测治具，结构简单，利用端接触的检测方法，使得待检测产品不会发生相对滑动，因此不会对产品表面造成划痕，而且可拆卸更换，方便检修，有利于节约生产成本。

附图说明

图1为本实用新型一种接插件检测治具的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种接插件检测治具的整体结构俯视图；

图3为图2中A-A剖面的剖视图。

图中：1、固定底座；10、倒钩；110、下压块；111、连接块；112、椭圆柱筒；2、探针导套；20、针孔；3、探针；4、圆柱销；5、弹簧；6、第一锁紧螺钉；7、第二锁紧螺钉；8、圆柱套筒。

具体实施方式