[实用新型]太阳能电池光致衰减测试设备

说明书

本实用新型公开了一种太阳能电池光致衰减测试设备，包括顶板、底板以及位于所述顶板和底板之间的侧板，所述侧板与顶板和底板之间形成密闭空间，所述密闭空间靠近所述顶板设置有光照装置，所述光照装置可在所述密闭空间内上下移动，所述密闭空间靠近所述底板设置有放样平台，所述放样平台与所述底板之间设置有加热装置和冷却装置。本实用新型的太阳能电池光致衰减测试设备结构设计合理，通过光源控制实现光强在100W‑1000W/m²范围内可变调控；通过电阻加热和循环水冷却系统实现20℃‑70℃范围内连续可变调控，能够实现在一台设备上完成不同条件下的LID和LeTID测试。通过惰性气体保护，避免光照环境下、尤是是高温光照环境下的栅线氧化，从而获得更为准确的LID和LeTID测试数据。

技术领域

本实用新型属于太阳能电池检测技术领域，具体涉及一种太阳能电池光致衰减测试设备。

背景技术

中国光伏产业发展路线图2018指出，我国多晶硅产量超过25万吨，多晶硅片产量约为109.2GW，电池片产量约为87.2GW，组件产量约85.7GW。我国新增光伏并网装机容量达到44GW，累计并网装机容量超过174GW，新增和累计并网装机均为全球第一。各项数据显示，我们已经成为光伏产业的制造大国和使用大国。国际光伏技术线路（InternationalTechnology Roadmap for Photovoltaic，ITRPV）2019指出，2018年全球装机容量达109GW。光伏发电正在逐渐成为新能源产业的主力军。

随着光伏行业技术的进步，人们对光伏电池质量要求越来越高。其中，直接影响终端发电量大小的光致衰减（LID/LeTID）项目备受业内人士所关注。目前，如何降低和解决光致衰减是摆在各大电池厂商面前的一道难题。

当前研究发现，太阳能电池光致衰减分为两类：一类是1000W/m²光强、25℃短时间（24-48h）光照下的光致衰减，英文简称“LID”；一类是100-200W/m²光强、60-70℃长时间（192h）光照下的光致衰减，英文简称“LeTID”。两类光照衰减的主因是不相同的，LID主要与O杂质和Fe杂质有关；而LeTID，目前理论认为，主要与其他金属杂质有关。

当前，行业内光致衰减测试设备均是光强和温度均不能可变调控，因此LID和LeTID测试均是单独的测试平台完成的。目前的测试设备也均没有考虑到，光照环境下，尤其是高温光照环境下电池栅线氧化问题，因此给光致衰减测量准确度带来较大的影响。

发明内容

有鉴于此，为了克服现有技术的缺陷，本实用新型的目的是提供一种太阳能电池光致衰减测试设备，其能够实现在一台设备上完成不同条件下的LID和LeTID测试且结果准确。

为了达到上述目的，本实用新型采用以下的技术方案：

一种太阳能电池光致衰减测试设备，包括顶板、底板以及位于所述顶板和底板之间的侧板，所述侧板与顶板和底板之间形成密闭空间，所述密闭空间靠近所述顶板设置有光照装置，所述光照装置可在所述密闭空间内上下移动，所述密闭空间靠近所述底板设置有放样平台，所述放样平台与所述底板之间设置有加热装置和冷却装置。进行光致衰减测试的太阳能电池位于放样平台上。通过移动光照装置，可以使得光照装置与放样平台之间的距离可调，进而调整放样平台上的光照强度。通过设置加热装置和冷却装置，使得放样平台上的温度可调。

优选的，所述光照装置包括沿所述密闭空间上下移动的移动板以及安装在所述移动板上的光源。通过移动板的上下移动进而带动光照装置的上下移动。