[实用新型]一种芯片级的霍尔器件测试分选装置有效
申请号: | 201920989131.5 | 申请日: | 2019-06-27 |
公开(公告)号: | CN210230705U | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 何渊;胡双元 | 申请(专利权)人: | 张家港恩达通讯科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 张韬 |
地址: | 215614 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片级 霍尔 器件 测试 分选 装置 | ||
1.一种芯片级的霍尔器件测试分选装置,其特征在于,包括:
探针台(1),用于连接霍尔器件(01)的四个引脚,并对输出不合格的霍尔器件(01)进行标定;
电磁铁(2),设置于所述探针台(1)上,用于给所述霍尔器件(01)提供恒定磁场;
电流源(3),与所述霍尔器件(01)的两个引脚连接,作为输入端;
万用表(4),与所述霍尔器件(01)的另外两个引脚连接,作为输出端以测试霍尔电压。
2.根据权利要求1所述的一种芯片级的霍尔器件测试分选装置,其特征在于,所述探针台(1)包括探针台主体(11),所述探针台主体(11)的顶部设有显微镜(12),所述显微镜(12)的正下方设有承片台(13),所述承片台(13)的两侧设有探针装置(14)和打点器装置(15)。
3.根据权利要求2所述的一种芯片级的霍尔器件测试分选装置,其特征在于,所述探针装置(14)包括安装于所述探针台主体(11)上的探针架(141),所述探针架(141)靠近承片台(13)一侧设有探针(142),并且所述探针架(141)上分布有固定锁钮(143)、前后调节钮(144)、左右调节钮(145)及上下调节钮(146)。
4.根据权利要求3所述的一种芯片级的霍尔器件测试分选装置,其特征在于,所述打点器装置(15)包括安装于所述探针台主体(11)上的打点器支架(151),所述打点器支架(151)靠近承片台(13)一侧设有打点线(152),所述打点线(152)连接有墨盒(153),并且所述打点器支架(151)上分布有顶紧螺钉(154)、限位螺母(155)及定位螺母(156)。
5.根据权利要求1所述的一种芯片级的霍尔器件测试分选装置,其特征在于,所述电磁铁(2)、电流源(3)、万用表(4)均连接有控制端(5),所述控制端(5)包括至少一台个人计算机(51)及至少一台采用堆栈算法进行数据存储的可编程逻辑控制器(52),所述个人计算机(51)与所述可编程逻辑控制器(52)通信连接,用以实现数据同步。
6.根据权利要求5所述的一种芯片级的霍尔器件测试分选装置,其特征在于,所述个人计算机(51)与所述可编程逻辑控制器(52)通过心跳信号的交互进行工作状态的相互检查。
7.根据权利要求5所述的一种芯片级的霍尔器件测试分选装置,其特征在于,所述控制端(5)与所述电磁铁(2)、电流源(3)、万用表(4)通过握手信号的交互进行工作状态的相互检查。
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