[实用新型]一种小型封装霍尔开关元器件用测试座

说明书

一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，涉及霍尔开关测试用零部件技术领域，解决了现有的测试座结构受待测霍尔开关元器件的管脚影响，不同管脚的待测霍尔开关元器件就需要使用不同的测试座，通用性较低，成本较高的问题。技术方案包括基台，所述基台上设有上下贯通的基管，所述基管内设有替芯，所述替芯内上下贯穿有多个针孔，针孔内设有相互匹配的探针和针套，探针位于针套上方，针套底端连接到测试机，基管顶部连接有第一平台，所述替芯顶部设有第二平台，所述第一平台上连接有用于将其与第二平台相固定的固定件。达到了提高测试座通用性，并方便更换探针和针套或其他小零部件，且无需再次绕线，降低测试成本的效果。

技术领域

本实用新型涉及霍尔开关测试用零部件技术领域，具体涉及一种小型封装霍尔开关元器件用测试座。

背景技术

霍尔开关是在霍尔效应原理的基础上，利用集成封装和组装工艺制作而成，其内部通过集成霍尔电压发生器、信号放大器、施密特触发器、CMOS输出驱动器等，把磁输入信号转换成开关量电信号输出，具有无接触、低功耗、长寿命、响应频率高等特点，广泛应用于汽车点火系统、速度表、里程表、笔记本电脑等多种场合。

随着微电子技术的发展，元器件实际尺寸越来越小，虽然，已有专用测试座来测试超小型封装霍尔开关元器件的电性能测试；但是，其结构受待测霍尔开关元器件的管脚影响，不同管脚的待测霍尔开关元器件就需要使用不同的测试座，通用性较低，成本较高。

实用新型内容

因此，本实用新型要解决的技术问题在于现有的装置通用性低，提高了测试成本，从而提供一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，其通用性高。

本实用新型的技术方案如下所示。

一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，包括基台，所述基台上设有上下贯通的基管，所述基管内设有替芯，所述替芯内上下贯穿有多个针孔，针孔内设有相互匹配的探针和针套，探针位于针套上方，针套底端连接到测试机，基管顶部连接有第一平台，所述替芯顶部设有第二平台，所述第一平台上连接有用于将其与第二平台相固定的固定件。

优选的，第一平台抵接于第二平台下侧面，固定件包括转动连接于第一平台上方的水平杆，第二平台上开设有与水平杆相适配的通槽，所述水平杆的转轴贯穿第二平台上的通槽，所述水平杆抵接于第二平台上侧面。

优选的，所述针套包括上部的大径段和下部的小径段。

优选的，所述替芯包括上下抵接的上芯和下芯，所述上芯底端面与针套的大径段相交。

优选的，所述上芯底端面与针套的大径段下端面共面。

优选的，所述下芯底端开设有若干贯穿至其下端面的限位孔，所述基管底部连接有与限位孔相配合的限位块。

优选的，所述基管内端面上设有沿其轴向设置的定位槽，替芯外表面上设有与定位槽相匹配的定位条。

本实用新型技术方案，具有如下优点：

1.本实用新型提供的一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，可以根据霍尔开关元器件的不同管脚，并通过替芯来进行更换探针和针套的数量和位置，提高了装置的通用性，无需重新绕线。

2.本实用新型提供的一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，通过将替芯分为上芯和下芯，可以将嵌入下芯的针套整体进行替换，又或者将针套直接拔出，进一步彻底进行更换，节省探针与针套的使用，且便于将针套从替芯中拔出。

3.本实用新型提供的一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，通过定位条、水平杆与限位块的设置，便于将替芯定位并固定于测试座中，防止测试过程中测试座内部发生位置的偏移，提高测试的准确性和流畅度。

附图说明