[实用新型]光模块老化转接电路、装置及电子产品有效

专利信息
申请号: 201921000252.9 申请日: 2019-06-27
公开(公告)号: CN210720477U 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 金海亮;庄礼杰 申请(专利权)人: 深圳市亚派光电器件有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518101 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 模块 老化 转接 电路 装置 电子产品
【权利要求书】:

1.一种光模块老化转接电路,其特征在于,所述光模块老化转接电路包括上位机、老化电路及转接电路;所述上位机与所述老化电路连接,所述老化电路与所述转接电路连接;其中,

所述上位机,用于向所述老化电路发送测试信号;

所述老化电路,用于为所述转接电路供电,接收所述测试信号,并根据所述测试信号发送老化指令至所述转接电路;

所述转接电路,用于连接不同的待测光模块,并将所述老化指令发送至所述待测光模块。

2.如权利要求1所述的光模块老化转接电路,其特征在于,所述老化电路包括电源电路及通信电路;所述电源电路与所述通信电路及所述转接电路连接,所述通信电路与所述上机位及所述转接电路连接;其中,

所述电源电路,用于为所述通信电路及所述转接电路供电;

所述通信电路,用于接收所述测试信号,并根据所述测试信号发送老化指令至所述转接电路。

3.如权利要求2所述的光模块老化转接电路,其特征在于,所述通信电路还用于通过所述转接电路获取所述待测光模块老化的老化测试结果,为待测光模块供电,并将所述老化测试结果发送至所述上机位。

4.如权利要求1所述的光模块老化转接电路,其特征在于,所述转接电路包括连接器、SFP+光模块接口、XFP+光模块接口及QSFP光模块接口;所述SFP+光模块接口、所述XFP+光模块接口及所述QSFP光模块接口分别与所述连接器连接,所述连接器与所述老化电路连接;其中,

所述SFP+光模块接口,用于插接SFP光模块;

所述XFP+光模块接口,用于插接XFP光模块;

所述QSFP光模块接口,用于插接QSFP光模块。

5.如权利要求4所述的光模块老化转接电路,其特征在于,所述连接器为一个32针插口或两个16针插口或四个8针插口;所述连接器,用于插接光模块老化板。

6.如权利要求4所述的光模块老化转接电路,其特征在于,所述SFP+光模块接口、所述XFP+光模块接口及所述QSFP光模块接口的接口外壳为金属外壳,且金属外壳电气接地。

7.如权利要求6所述的光模块老化转接电路,其特征在于,所述老化电路,用于向所述SFP光模块、所述XFP光模块及所述QSFP光模块发送老化指令,并接收所述SFP光模块、所述XFP光模块及所述QSFP光模块返回的老化测试结果,并发送至所述上位机。

8.一种光模块老化转接装置,其特征在于,所述光模块老化转接装置包括如权利要求1-7中任意一项所述的光模块老化转接电路。

9.一种电子产品,其特征在于,所述电子产品包括如权利要求8所述的光模块老化转接装置。

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