[实用新型]一种包括硅钢卷校平机覆膜系统的校平机有效

专利信息
申请号: 201921002317.3 申请日: 2019-06-28
公开(公告)号: CN211194908U 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 周建峰 申请(专利权)人: 安徽政平金属科技股份有限公司
主分类号: B29C63/02 分类号: B29C63/02;B29C63/48
代理公司: 安徽知问律师事务所 34134 代理人: 王亚军
地址: 243000 安徽省马鞍山市慈*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 包括 硅钢 卷校平机覆膜 系统 校平机
【权利要求书】:

1.一种包括硅钢卷校平机覆膜系统的校平机,其特征在于:

包括校平机(2),校平机(2)的进口托板(203)上部设置压膜辊(4),压膜辊(4)斜向上依次设置有张紧辊(3)和膜卷(1),压膜辊(4)、张紧辊(3)和膜卷(1)两端分别连接校平机(2)两侧的框架;所述的压膜辊(4)通过校平机(2)的进口托板(203)两侧的支架支撑,所述的支架控制压膜辊(4)的上升和下降;所述的张紧辊(3)设置于压膜辊(4)和膜卷(1)之间,张紧辊(3)在垂直于压膜辊(4)和膜卷(1)中心点连接的平面方向上前后运动,对膜进行压紧;

校平机(2)包括机架、进口托板(203)、上校平辊(204)和下校平辊(205),还包括上校平辊电机(201)和下校平辊电机(202),所述的上校平辊电机(201)和下校平辊电机(202)分别连接上校平辊(204)和下校平辊(205),所述的上校平辊电机(201)和下校平辊电机(202)之间的进料端安装有用于测量进料间隙的进口辊探测器(207),所述的上校平辊电机(201)和下校平辊电机(202)之间的进料端最后一根上校平辊(204)和下校平辊(205)之前的区域安装有用于测量出料间隙的出口辊探测器(208),所述的上校平辊电机(201)和下校平辊电机(202)通过线路与机架上设置的校平机控制箱(206)连接;

每一个上校平辊电机(201)和下校平辊电机(202)之前都设置有一个出口辊探测器(208);

压膜辊(4)两端还设置有校准支架,校准支架端部设置有驱动电机,支撑杆两端与压膜辊(4)两端连接,驱动电机驱动压膜辊(4)在垂直于膜运动的方向上移动。

2.根据权利要求1所述的校平机,其特征在于:所述的进口辊探测器(207)和出口辊探测器(208)为激光测距探头或红外测距探头。

3.根据权利要求1所述的校平机,其特征在于:所述的校平机控制箱(206)上设置有若干块校平机控制箱面板和若干个校平机控制箱按钮。

4.根据权利要求3所述的校平机,其特征在于:所述的校平机控制箱面板为触摸屏。

5.根据权利要求4所述的校平机,其特征在于:校平机入口的任意一侧或两侧分别设置两个或两个以上距离探测器。

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