[实用新型]麦克风Group Delay性能测试工装

说明书

本实用新型提供一种麦克风Group Delay性能测试工装，包括声源发声装置、固定在声源发声装置上的封闭场底座以及设置在封闭场底座顶部的定位组件，定位组件用于定位待测麦克风和标准麦克风；封闭场底座与定位组件之间形成封闭场腔，封闭场腔底部与声源发声装置的出音孔连通；定位组件包括定位板以及固定在定位板顶面的第一定位块，在定位板上开设有与封闭场腔顶部连通的第一传音孔和第二传音孔，待测麦克风放置在第一传音孔正上方，标准麦克风通过第一定位块固定在第二传音孔正上方。利用上述实用新型不仅能够提供较高声压级的测试音，适应更多规格的待测麦克风，还能够显著提高麦克风Group Delay性能测试的测试精度。

技术领域

本实用新型涉及麦克风测试技术领域，更为具体地，涉及一种麦克风Group Delay性能测试工装。

背景技术

麦克风(MIC)，学名为传声器，是将声音信号转换为电信号的能量转换器件，由Microphone这个英文单词音译而来。也称话筒、微音器。二十世纪，麦克风由最初通过电阻转换声电发展为电感、电容式转换，大量新的麦克风技术逐渐发展起来，这其中包括铝带、动圈等麦克风，以及当前广泛使用的电容麦克风和驻极体麦克风。

一般情况下，麦克风在制作完成后，并不能直接出售，需要进行一系列的性能测试，其中，Group Delay性能测试就是尤为重要的一项测试，传统麦克风的Group Delay性能测试是将待测麦克风以及标准麦克风放置在自由场(如消音室)内，通过相位测试装置测试待测麦克风与标准麦克风之间的相位差，通过相位差判断待测麦克风的Group Delay性能。

然而，由于自由场的空间较大，且声源与待测麦克风之间的距离相对较远，因此难以提升测试音的声压级，此外，传统的Group Delay性能测试装置也无法精确地保证待测麦克风与标准麦克风的振膜与声源的距离完全一致，因此测量出的待测麦克风与标准麦克风之间的相位差往往不是非常精准，无法满足一些高声压级、高精度规格麦克风的GroupDelay性能测试的要求。

基于这一点，亟需一种可提供高声压级、高精度的麦克风Group Delay性能测试装置。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的是提供一种麦克风Group Delay性能测试工装，以解决现有的麦克风Group Delay性能测试装置不能提供高声压级测试，且Group Delay性能测试精度低的问题。

本实用新型实施例中提供的麦克风Group Delay性能测试工装，包括声源发声装置、固定在声源发声装置上的封闭场底座以及设置在封闭场底座顶部的定位组件，定位组件用于定位待测麦克风和标准麦克风；其中，

封闭场底座与定位组件之间形成封闭场腔，封闭场腔底部与声源发声装置的出音孔连通；定位组件包括定位板以及固定在定位板顶面的第一定位块，在定位板上开设有与封闭场腔顶部连通的第一传音孔和第二传音孔，待测麦克风放置在第一传音孔正上方，标准麦克风通过第一定位块固定在第二传音孔正上方。

其中，优选的结构是，在声源发声装置内部设置有扬声器，扬声器的振膜与定位板平行设置，待测麦克风的振膜与定位板平行，标准麦克风的振膜通过第一定位块与待测麦克风的振膜设置在同一水平面上。

其中，优选的结构是，在第一定位块上开设有与标准麦克风相适配的定位孔，定位孔与第二传音孔上下位置对应，标准麦克风限位在定位孔内且下端与定位板相贴合；在待测麦克风底部固定连接有FPC，待测麦克风的振膜通过FPC与标准麦克风的振膜保持在同一水平面内。

其中，优选的结构是，定位组件还包括固定在定位板底面的第二定位块，在封闭场底座顶部开设有与第二定位块相适配的限位槽，第二定位块收容在限位槽内。