[实用新型]一种用于测试共模噪声的探头及噪声测试装置

说明书

本实用新型为电磁兼容技术领域，提供了一种用于测试共模噪声路径的探头及噪声测试装置，该探头包括：探针，适于连接至测试对象；印刷电路板，一端连接至所述探针，另一端通过同轴线缆连接至噪声检测仪，所述同轴线缆外设有屏蔽层，所述屏蔽层连接至所述噪声检测仪的接地线；电容，设于所述印刷电路板上，所述探针接收的共模噪声经所述电容后传递至所述噪声检测仪中；金属屏蔽套管，套设在所述印刷电路板外，且所述金属屏蔽套管连接至所述屏蔽层。与现有技术相比，本实用新型提供的探头可以屏蔽外部噪声对共模噪声的干扰，实现对共模噪声路径的检测。

技术领域

本实用新型主要涉及电磁兼容领域，尤其涉及一种用于测试共模噪声的探头及噪声测试装置。

背景技术

在电磁兼容（Electromagnetic Compatibility，EMC）领域，传导噪声可分为差模噪声和共模噪声。

共模噪声的传导路径往往非常复杂，导致测试共模噪声的传导路径相当困难。然而，测试共模噪声的传导路径又是必要的，因为确定共模噪声的路径是对其进行滤波、旁路和消除的前提。

现有技术尝试采用探头来测试噪声传导路径，然而探头只能用来测试路径相对简单的差模噪声，无法测试路径相对复杂的共模噪声。采用探头测试差模噪声传导路径时，将示波器连接至测试探头，将差模噪声传递至示波器中进行显示。然而示波器的底噪通常为1mV左右，差模噪声的幅值为0.01mV左右，底噪对差模噪声的干扰较大，导致差模噪声的路径测试也不准确。此外，差模噪声与共模噪声无法分离，噪声中共模噪声分量对差模噪声分量的路径测试也会产生影响。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种用于测试共模噪声的探头及噪声测试装置，以实现对共模干扰路径的测试，同时提高测试的准度和精度。

为解决上述技术问题，本实用新型的一方面提供一种用于测试共模噪声路径的探头，该探头包括：探针，适于连接至测试对象；印刷电路板，一端连接至所述探针，另一端通过同轴线缆连接至噪声检测仪，所述同轴线缆外设有屏蔽层，所述屏蔽层连接至所述噪声检测仪的接地线；电容，设于所述印刷电路板上，所述探针接收的共模噪声经所述电容后传递至所述噪声检测仪中；金属屏蔽套管，套设在所述印刷电路板外，且所述金属屏蔽套管连接至所述屏蔽层。

在本实用新型的一实施例中，所述电容焊接在所述印刷电路板上，且所述电容的一端通过铜箔布线电连接至所述探针，所述电容的另一端通过铜箔布线电连接至所述同轴电缆。

在本实用新型的一实施例中，所述电容的电容值为1-10PF。

在本实用新型的一实施例中，所述印刷电路板可拆卸地连接至所述探针。

在本实用新型的一实施例中，所述可拆卸连接为螺纹连接、销连接或键连接。

在本实用新型的一实施例中，所述电容为可变电容。

本实用新型的另一方面提供一种噪声测试装置，其包括如上任一项所述的探头，所述测试装置还包括连接至所述探头的噪声检测仪。

在本实用新型的一实施例中，所述噪声检测仪为具有频谱分析仪或电磁干扰接收机。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：本实用新型提供一种用于测试共模噪声的探头及噪声测试装置，金属屏蔽套管套设在印刷电路板外，且连接至噪声检测仪的接地线，可以屏蔽外部噪声对共模噪声的干扰，实现对共模噪声路径的检测。

附图说明

为让本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本实用新型的具体实施方式作详细说明，其中：

图1是根据本实用新型的一实施例的测试系统的示意图。

图2是根据本实用新型的一实施例的探头剖面示意图。