[实用新型]用于给待检测物照明的光源装置

说明书

本实用新型属于视觉检测技术领域，具体涉及一种用于给待检测物照明的光源装置。本实用新型提供的光源装置，包括发光元件和反光元件。其中，反光元件自所述光源装置向待检测物位置延伸，且面向待检测物的一侧表面为源自所述发光元件光线的反射面。对于产品有处于被遮挡部位或狭小空间的内的待检测物，该光源装置的反光元件根据待检测区域的结构空间设置以能够伸入待检测区域并面向待检测物，反光元件作为源自发光组件光线的反射面，以将待检测物照亮，从而实现与待检测项其它面展现同样的效果，有效解决了现有的AOI光源因难以在产品被遮挡部位或狭小空间内架设而无法进行光学检测的难题。

技术领域

本实用新型属于视觉检测技术领域，具体涉及一种用于给待检测物照明的光源装置。

背景技术

自动光学检测(Automatic Optical Inspection，AOI)是基于光学原理对晶圆、芯片或其它被检测对象在生产过程中遇到的常见缺陷进行快速、无损伤检测的技术，该技术广泛应用于PCB、LED、TFT、集成电路以及太阳能面板等领域。AOI的工作原理是用特定的光源照射被检测对象，通过光学成像系统采集被检测对象的图像信息，然后通过计算机将采集的图像信息与参考图像信息进行比较，以识别出被检测对象的表面缺陷，然后通过显示器或自动标志把缺陷显示/标识出来。

光源是自动检测设备的重要组成部分，国内现有的AOI光源均采用整圆形设计。但此种设计方案在实际应用中存在一些缺陷，如在检测汽车马达PCB板与PIN焊接处的焊点饱和度时，由于产品的焊点附近已经存在成型的零部件(如塑胶件)，已成型的零部件会遮挡焊点的一个侧面，从而造成该侧面无法进行饱和度的检测；而且，已成型的零部件距焊点很近，再加上其它零部件的干扰，空间极其狭小，仅有5mm左右，从而无法架设整圆形光源。因而，对产品处于被遮挡部位或狭小空间内的待检测物进行光学检测成为一大难题。

实用新型内容

因此，本实用新型要解决的技术问题在于克服现有的AOI光源整圆形结构不适于对处于产品被遮挡部位或狭小空间的被检测物进行光学检测的缺陷，从而提出一种适于产品狭小空间检测并能够对被检测物进行全面照射的光源装置。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：

本实用新型提供一种用于给待检测物照明的光源装置，包括：

发光元件；

反光元件，自所述光源装置向待检测物位置延伸，且面向待检测物的一侧表面为源自所述发光元件光线的反射面。

优选地，该结构的光源装置，所述反光元件包括两个所述反射面，两个所述反射面相背设置，以反射不同位置处的源自所述发光元件的光线。

优选地，该结构的光源装置，所述反射面呈矩形，其长度和宽度能够使所述发光元件的光线被反射后部分照射待检测物。

进一步优选地，该结构的光源装置，包括可拆卸安装的发光组件和反光组件，所述发光组件包括至少一个所述发光元件，所述反光组件包括所述反光元件；所述反光组件还包括将所述反光元件固定在所述发光组件上的第一固定件。

进一步优选地，该结构的光源装置，所述第一固定件为刚性矩形板状结构，所述反光元件为柔性反光膜。

进一步优选地，该结构的光源装置，所述第一固定件的一端固定在所述发光组件上，所述柔性反光膜设置在所述第一固定件的两表面。

进一步优选地，该结构的光源装置，所述反光组件还包括刚性板状结构的第二固定件，所述第一固定件固定在所述第二固定件上，所述第二固定件的两端固定在所述发光组件上。

进一步优选地，该结构的光源装置，所述发光元件的横截面为C型。

进一步优选地，该结构的光源装置，所述发光组件包括三个层叠设置的所述发光元件以围成内腔，且所述内腔内径由底层朝向顶层方向逐渐减小。