[实用新型]一种基于荧光光纤的局部放电定位装置有效
申请号: | 201921019570.X | 申请日: | 2019-06-27 |
公开(公告)号: | CN210347841U | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 于学峰;程梅;于会 | 申请(专利权)人: | 合肥谱仁光电技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 | 代理人: | 段晓微 |
地址: | 230000 安徽省合肥市高新区黄山路*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 荧光 光纤 局部 放电 定位 装置 | ||
本实用新型公开了一种基于荧光光纤的局部放电定位装置,第一光电探测器和第二光电探测器的信号输入端分别与荧光光纤两端连接,第一光电探测器和第二光电探测器的信号输出端与信号处理器连接;通过荧光光纤对导体局部放电进行捕获,抗干扰性能优异,同时通过在荧光光纤两端均连接光电探测器,对荧光光纤两端的信号进行探测,从而能够对荧光光纤上与局部放电对应的激发光位置进行定位,实现对导体局放位置进行精确定位。
技术领域
本实用新型涉及局部放电检测领域,尤其涉及一种基于荧光光纤的局部放电定位装置。
背景技术
气体绝缘全封闭组合电器(GIS)、变压器、环网柜等电气设备在高压输变电系统中扮演着十分重要的角色,任何器件故障均有可能造成较大的经济损失,而导致这些器件故障的一个重要原因是器件内部的绝缘劣化引起的局部放电(简称局放)。
局放是绝缘劣化的一个表象,同时会使绝缘缺陷进一步扩大而加深劣化程度,因此在电力系统中需要实时在线监测局放,并能准确的定位局放,进而提前采取防护措施。局放检测方法均是基于局放过程中发生的物理或化学现象,现有检测方法包括脉冲电流法、超高频法(UHF)、超声波法、化学分析法、光测法等。脉冲电流法是唯一一个拥有国际标准的检测方法,具有设备简单、灵敏度高的优点,但是该方法抗干扰能力差;超高频法在使用内置式传感器时能够提升自身的抗干扰能力,但无法对局放进行定位;超声波法易受振动及声音的干扰;化学分析法需要长期累积数据,不适合实时监测。光测法以荧光光纤作为感测元件,在电器设备内部不受干扰,并且当采用合适的光电探测器时其检测精度极高。目前,国内已有多个团队对光测法进行了深入的研究,其中包括清华大学、西安交通大学、重庆大学等,但他们均无法做到对局放进行实时定位。
实用新型内容
为解决背景技术中存在的技术问题,本实用新型提出一种基于荧光光纤的局部放电定位装置。
本实用新型提出的一种基于荧光光纤的局部放电定位装置,包括:荧光光纤、第一光电探测器、第二光电探测器、信号处理器;
第一光电探测器和第二光电探测器的信号输入端分别与荧光光纤两端连接,第一光电探测器和第二光电探测器的信号输出端与信号处理器连接。
优选地,还包括第一传输光纤和第二传输光纤,第一传输光纤两端分别与荧光光纤的第一端和第一光电探测器连接,第二传输光纤两端分别与荧光光纤的第二端和第二光电探测器连接。
优选地,还包括第一非金属光纤连接器和第二非金属光纤连接器,第一传输光纤与荧光光纤第一端通过第一非金属光纤连接器连接,第二传输光纤与荧光光纤第二端通过第二非金属光纤连接器连接。
优选地,包括多根荧光光纤,多根荧光光纤平行布置且共同围成检测空间。
优选地,第一光电探测器和/或第二光电探测器的入射端均设有窄带滤光片。
优选地,第一光电探测器通过第一光纤耦合器与荧光光纤第一端连接,第二光电探测器通过第二光纤耦合器与荧光光纤第二端连接。
优选地,还包括隔离外壳,隔离外壳上设有进线口、出线口、第一光纤连接端口、第二光纤连接端口,荧光光纤位于隔离外壳内且两端分别与第一光纤连接端口和第二光纤连接端口连接。
优选地,荧光光纤沿进线口向出线口方向延伸。
本实用新型中,所提出的基于荧光光纤的局部放电定位装置,通过荧光光纤对导体局部放电进行捕获,抗干扰性能优异,同时通过在荧光光纤两端均连接光电探测器,对荧光光纤两端的信号进行探测,从而能够对荧光光纤上与局部放电对应的激发光位置进行定位,实现对导体局放位置进行精确定位。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种基于荧光光纤的局部放电定位装置的一种实施方式的结构示意图。
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