[实用新型]量测系统

说明书

本实用新型提出一种量测系统，包括反射件及电子元件。反射件具有反射曲面，反射曲面具有中心。电子元件配置在中心，电子元件包括数个待校正单元，各待校正单元相距反射曲面的距离相等。

技术领域

本实用新型涉及一种量测系统，且特别是涉及一种具有反射件的量测系统。

背景技术

一般而言，在使用电子元件前，通常会对电子元件进行误差校正。例如，电子元件发出发射信号，此发射信号自反射件反射后回到电子元件。电子元件依照发射信号及反射信号对电子元件进行误差校正。电子元件的误差通常由以下几种误差来源组成：(1)电子元件本身电路设计(称“电路设计误差”)；(2) 反射件与电子元件之间的距离远近，例如距离愈远，误差愈大(称“距离误差”)；(3)反射件本身形状所导致的误差(称“反射件形状误差”)。然而，前述误差来源互相混杂于电子元件所计算出的量测值，增加误差校正上的困难。因此，有需要提出一种校正方法，以改善现有误差校正的问题。

发明内容

本实用新型提出一种量测系统，可改善前述误差校正问题。

根据本实用新型的实施例，提出一种量测系统。量测系统包括反射件及电子元件。反射件具有反射曲面，反射曲面具有中心。电子元件配置在中心，电子元件包括数个待校正单元，各待校正单元相距反射曲面的距离相等。

附图说明

图1A、图1B是本实用新型实施例的量测系统示意图。

图2是图1A的电子元件的功能方块图。

图3是图2的影像传感器的示意图。

图4A是图1A的反射件形变的示意图。

图4B是图1A之反射件与电子元件之间的距离改变的示意图。

具体实施方式

为了对本新型的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：

请参照图1A～图3，图1A、图1B是本实用新型实施例的量测系统100的示意图，图2是图1A的电子元件120的功能方块图，而图3是图2的影像传感器122的示意图。

如图1A所示，量测系统100用以对电子元件120进行误差校正，以提高电子元件120的量测准确度。量测系统100包括反射件110、电子元件120、基座130、驱动器140、处理器150及承载件160。如图2所示，电子元件120 包括光源121、影像传感器(image sensor)122及控制器123。在一实施例中，影像传感器122与控制器123可整合成单一元件。影像传感器122和/或控制器123例如是采用半导体制程所形成的实体电路结构(circuit)。在一实施例中，电子元件120例如是采用飞时测距检测(Time ofFlight,ToF)装置，其可量测本身与待测目标之间的距离，或待测目标的表面轮廓。

如图2所示，光源121例如是发光二极管(Light Emitting Diode,LED)或雷射二极管(Laser Diode,LD)，其可发射光线L1照射反射件110。光线L1例如是红外光，然本实用新型实施例不以此为限。光线L1自反射件110反射后成为反射光线L2，反射光线L2反射至影像传感器122。影像传感器122将接收的反射光线L2转换成反射信号S1。控制器123可依据发射光线L1的发射信号及影像传感器122所检测到的反射信号S1进行对应的处理和计算，并产生输出值S2给处理器150。输出值S2例如是发射信号与反射信号S1的相位差值，处理器150依据此相位差值计算电子元件120与反射件110之间的实测距离。由于反射件110与电子元件120之间的实际距离为已知，因此在比较实测距离与实际距离的大小关系后，即可取得实测距离与实际距离之间的误差。处理器150或使用者再依据此误差计算或设定对该实测距离的校正值。