[实用新型]LED芯片光电性检测清针设备

说明书

本实用新型涉及LED检测设备技术领域，尤其是涉及一种LED芯片光电性检测清针设备，包括用于放置探针的工作平台，所述工作平台上设置有用于清洁探针异物的清洁片，所述清洁片的材质为亚克力，本实用新型LED芯片光电性检测清针设备在使用时，通过在工作平台上设置了清洁片，使得探针与清洁片接触，由于清洁片的材质为亚克力，亚克力材质具有良好的综合力学性能，并且对探针具有缓冲分散应力效果，同时也降低了探针磨耗，使得探针提升使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及LED检测设备技术领域，尤其是涉及一种LED芯片光电性检测清针设备。

背景技术

LED是一种可以将电能转化为光能的半导体二极管，LED芯片是其核心组件。LED芯片的制备工艺过程复杂，步骤繁多，为确定LED能否正常工作以及发光二极管的各种特性，通常会对切割之后的各个LED进行测试，以便根据其光电参数进行等级分类，现有检测设备通过探针来检测芯片的光电性，而探针长时间量测芯片晶粒（chip）过程会有异物累计残留，这样就间接影响探针在量测芯片时的光电性，也就影响到芯片的量测品质。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是：为了解决现有检测设备通过探针来检测芯片的光电性，而探针长时间量测芯片晶粒（chip）过程会有异物累计残留，这样就间接影响探针在量测芯片时的光电性，也就影响到芯片的量测品质的问题，现提供了一种LED芯片光电性检测清针设备。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种LED芯片光电性检测清针设备，包括用于放置探针的工作平台，所述工作平台上设置有用于清洁探针异物的清洁片，所述清洁片的材质为亚克力。通过在工作平台上设置了清洁片，使得探针与清洁片接触，由于清洁片的材质为亚克力，亚克力材质具有良好的综合力学性能，并且对探针具有缓冲分散应力效果，同时也降低了探针磨耗，使得探针提升使用寿命。

为了便于清洁片的后期维护，进一步地，所述工作平台包括底座和上压板，所述上压板可拆卸连接在底座上表面，所述清洁片设置在上压板的上表面。将上压板可拆卸的安装在底座上，这样就使得清洁片在需要维护时，只需要把上压板进行拆卸，并换上新的上压板即可。

本实用新型的有益效果是：本实用新型LED芯片光电性检测清针设备在使用时，通过在工作平台上设置了清洁片，使得探针与清洁片接触，由于清洁片的材质为亚克力，亚克力材质具有良好的综合力学性能，并且对探针具有缓冲分散应力效果，同时也降低了探针磨耗，使得探针提升使用寿命，避免了现有检测设备通过探针来检测芯片的光电性，而探针长时间量测芯片晶粒（chip）过程会有异物累计残留，这样就间接影响探针在量测芯片时的光电性，也就影响到芯片的量测品质的问题。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型的主视图；

图2是本实用新型的俯视图。

图中：1、工作平台，2、清洁片，3、底座，4、上压板，5、探针。

具体实施方式

现在结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。

如图1-2所示，一种LED芯片光电性检测清针设备，包括用于放置探针5的工作平台1，所述工作平台1上设置有用于清洁探针5异物的清洁片2，所述清洁片2的材质为亚克力。

所述工作平台1包括底座3和上压板4，所述上压板4通过螺钉可拆卸连接在底座3上表面，所述清洁片2设置在上压板4的上表面。