[实用新型]一种IIC总线测试模块

说明书

本实用新型公开了一种IIC总线功能测试模块，涉及电子通信控制领域,用于检测IIC总线驱动功能的完备性。本实用新型技术提供的IIC总线测试模块，包括电位器与多个不同IIC时序设备；所述的多种不同时序设备包括时序1设备、时序2设备，……，时序n设备；所述的时序设备能够识别总线发送不同设备地址，时序设备按照地址进行响应；IIC总线继续对响应的时序设备发送不同的时序，完成数据的读写操作。本实用新型技术主要用于检测IIC总线驱动功能是否完备，避免IIC总线驱动中仅实现部分IIC从机设备的功能，无法使用其他从机设备情形，增强驱动实现的稳定性与安全性，方便从机设备的扩展与维护。

技术领域

本实用新型涉及嵌入式电子通信控制领域，具体地指IIC总线通过挂载多个不同时序规则的IIC设备测试模块。

背景技术

随着嵌入式的快速发展，IIC总线应用也日益广泛，IIC总线挂载的从机设备越来越多。由于IIC总线驱动不完备，导致挂载从机设备失败事情常有发生，检测IIC总线驱动的完备性变得必不可少，特别是对于嵌入式操作系统的IIC总线驱动检测的极其重要。

公开号为CN202886893U专利主要描述了一种PCB阻抗测试仪中基于IIC总线的I/O口扩展模，主要目的在于简化阻抗测试仪电路设计，使用IIC总线协议规则对I/O进行扩展，但无法有针对性的测试IIC总线驱动，检测是否满足不同IIC设备的时序要求，导致IIC总线驱动是否完备存在巨大的不确定性。

本实用新型的目的是测试IIC总线驱动的功能，满足各种时序要求，方便IIC挂载不同的IIC设备，避免操作系统在更换不同从机设备后导致无法使用的问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种IIC总线的测试方式，涉及电子通信控制领域，应用IIC协议规则，挂载多种不同的IIC时序设备与电位器，组成测试模块。

IIC总线测试模块包括了依据IIC总线时序组成，测试多个不同时序规则的IIC从机设备，即根据IIC设备数据交互特性选择不同的时序，检验不同时序设备是否能够正常工作，检验嵌入式操作系统或者相关IIC总线驱动的完备性。

进一步，时序1设备、时序2设备，……，时序n设备是为了测试总线的功能而选择的不同的IIC从机设备，其中n代表时序设备的数字标记，表示可以更具实际选择不同的数量，一般小于127。

进一步，每种时序设备的开始标记位、从机地址、读/写标记、从机寄存器地址、从机响应或者无响应、数据、停止位的时序结构组成选择上，有一种或者一种以上的时序结构组成不同。

所述的电位器，应用于IIC总线测试模块，调节IIC测试模块的数据线与时钟线的驱动能力。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型所提供的一种IIC总线测试模块的组成方框示意图。

图2为本实用新型所提供的一种IIC总线测试模块的时序组成结构示意图。

图3为本实用新型所提供的一种IIC总线测试模块的时序写结构组成示意图。

图4为本实用新型所提供的一种IIC总线测试模块的时序读结构组成示意图。

具体实施方式