[实用新型]一种激光照射指示器综合性能检测设备

权利要求书

1.一种激光照射指示器综合性能检测设备，包括用于检测激光照射指示器综合性能的检测设备；所述检测设备与外部计算机电连接；其特征在于：所述检测设备由编码激光采集前端、激光测距采集前端和主控单元组成；所述编码激光采集前端其输出端及所述激光测距采集前端其输出端分别与主控单元电连接；所述主控单元通过通讯电缆与外部计算机通讯连接；

所述编码激光采集前端包括由前至后依次摆放的编码滤光片、编码会聚透镜和高速光电探测器；所述高速光电探测器电连接至信号处理电路；所述信号处理电路其输出端与主控单元电连接；

所述激光测距采集前端由接收系统和发射系统组成；

所述接收系统依次包括接收滤光片、接收物镜、取样管和能量计；所述接收物镜为会聚透镜；所述取样管为光电探测器，其为一对激光脉冲感光的二极管；所述能量计为热释电探测器；

所述发射系统由发射物镜和半导体激光器组成；所述发射物镜为三片型，其由双胶物镜和正透镜组成；所述发射物镜前侧还安装有一平面保护玻璃和一衰减片；

所述主控单元包括数据采集处理模块、数据存储控制模块和人机接口模块组成；所述编码激光采集前端和激光测距采集前端分别与数据采集处理模块电连接；所述数据采集处理模块与数据存储控制模块电连接；所述数据存储控制模块通过人机接口模块与外部计算机通讯连接。

2.根据权利要求1所述的激光照射指示器综合性能检测设备，其特征在于：当被采集的激光照射指示器以连续脉冲方式或重频编码方式发出序列激光脉冲时，所述激光照射指示器的序列激光脉冲受大气散热后，散热信号经编码滤光片和编码会聚透镜后会聚至高速光电探测器其光敏面上。

3.根据权利要求1所述的激光照射指示器综合性能检测设备，其特征在于：所述信号处理电路由放大器和解调器组成。

4.根据权利要求1所述的激光照射指示器综合性能检测设备，其特征在于：所述编码激光采集前端通过固定支架安装于激光照射指示器的激光出射通道底端，且编码激光采集前端通过激光脉冲电缆与激光照射指示器连接。

5.根据权利要求1所述的激光照射指示器综合性能检测设备，其特征在于：用于检测重频编码脉冲激光性能时，

所述数据存储控制模块包括ARM单片机和存储器；所述存储器与ARM单片机电连接；

所述数据采集处理模块为重复频率测时器电路，其包括计数器，及与计数器电连接的时间间隔测定器和CPLD可编程逻辑器件；所述计数器、时间间隔测定器和CPLD可编程逻辑器件分别与ARM单片机电连接；

所述人机接口模块包括通讯接口匹配模块、键盘/显示模块和通讯接口模块；所述通讯接口匹配模块分别与时间间隔测定器和存储器电连接；所述键盘/显示模块与ARM单片机电连接；所述ARM单片机通过通讯接口模块与外部计算机通讯连接；

所述编码激光采集前端与数据采集处理模块的计数器电连接；所述激光照射指示器通过顺序交换装置插座与通讯接口匹配模块相连。

6.根据权利要求1所述的激光照射指示器综合性能检测设备，其特征在于：用于检测激光测距性能时，

所述数据存储控制模块包括带有存储单元的8051单片机、激光脉冲信号同步器和发光强度控制电路；所述发光强度控制电路其输出端与发射系统的半导体激光器电连接；

所述数据采集处理模块包括用于与接收系统的能量计电连接的A/D转换器及精确延时电路；所述精确延时电路由数据信号处理器、精密测时器和精密延时信号发生器组成；所述精密测时器其输出端及精密延时信号发生器其输入端分别与数据信号处理器电连接；所述A/D转换器和数据信号处理器分别与8051单片机电连接；所述精密测时器其输入端与激光脉冲信号同步器电连接；所述精密延时信号发生器其输出端与发光强度控制电路电连接；

所述人机接口模块包括通讯控制接口单元和通讯接口单元；所述8051单片机通过通讯控制接口单元与激光照射指示器通讯连接；所述8051单片机通过通讯接口单元与外部计算机通讯连接。

7.根据权利要求1或6所述的激光照射指示器综合性能检测设备，其特征在于：所述半导体激光器为能够发出激光波长为1.064μm的发光二极管。