[实用新型]一种垂直下压浮动式微针测试设备

说明书

本实用新型涉及测试治具技术领域，涉及一种垂直下压浮动式微针测试设备，包括底座，所述底座上设置有测试组件，所述底座一侧设置有下卡勾，与所述底座一端连接的翻盖，所述翻盖上端设置有一上卡勾，所述翻盖内设置有压块组件，通过旋转轴在限位槽相对位移，保证了压块组件下压时方向保持垂直，由于分别在压块上增加导向块和在载板上增加导向槽，进一步保证压块下压测试PCB时保持垂直，测试PCB不会横向移位，确保测试过程的稳定，并通过弹性件转接驱动压块下压测试PCB板，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤PCB板。

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，涉及一种垂直下压浮动式微针测试设备。

背景技术

目前，现有的Socket模组与FCT微针测试治具一体化设计，PCB（Printed CircuitBoard，印制电路板）板放置后翻盖结构直接压合在待测PCB板上，直接接触探针连接信号测试；放置PCB板后，PCB板测点与探针直接接触，容易损坏探针且易刮伤PCB板。现有的Socket翻转盖板结构下压测试PCB板时容易出现压块与PCB板不垂直的情况，导致PCB板出现损坏的现象，使得探针的使用寿命降低，提高了生产成本。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足，提供一种垂直下压浮动式微针测试设备。

为了实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

一种微针测试设备，包括底座以及与所述底座一端连接的翻盖，所述底座上设置有测试组件，所述底座一侧设置有下卡勾，所述底座另一侧设置有无线板；所述翻盖上端设置有一上卡勾，所述翻盖内设置有压块组件，所述压块组件包括压块转接板、压块和导轴件。

进一步地，所述测试组件包括针板、载板和测试板，所述载板靠近所述底座一侧设置有针板，所述载板远离所述底座一侧设置有测试板。

进一步地，所述载板上设置有导向槽。

进一步地，所述翻盖靠近所述无线板一侧通过第一连接件与所述底座活动连接。

进一步地，所述翻盖两侧设置有限位槽。

进一步地，所述压块组件两侧对称设置有旋转轴，所述压块组件通过所述旋转轴活动连接于限位槽内。

进一步地，所述上卡勾通过第二连接件与所述翻盖活动连接。

进一步地，所述压块转接板与所述压块设置于所述翻盖靠近所述底座一侧，所述压块转接板靠近所述翻盖一侧，所述压块靠近所述底座一侧。

进一步地，所述压块转接板与所述压块通过导轴件连接，所述压块转接板与所述压块之间设置有弹性件。

进一步地，所述压块靠近所述底座一侧设置有导向块。

本实用新型的有益效果：本实用新型通过旋转轴在限位槽相对位移，保证了压块组件下压时方向保持垂直，由于分别在压块上增加导向块和在载板上增加导向槽，进一步保证压块下压测试PCB时保持垂直，测试PCB不会横向移位，确保测试过程的稳定，并通过弹性件转接驱动压块下压测试PCB板，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤PCB板。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。

在附图中：

图1为本实用新型实施例所述的微针测试设备整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例所述的翻盖结构示意图；

图3为本实用新型实施例所述的压块组件结构示意图；