[实用新型]一种荧光磁粉探伤设备荧光装置

说明书

本实用新型涉及探伤设备领域，尤其涉及一种荧光磁粉探伤设备荧光装置，该装置的灯罩可以调节角度，且设有与支承杆配合的移动机构，有效解决背景技术中提出的问题。包括灯罩和内部呈30‑90度安装的紫外灯管，且灯罩下方设有菲涅尔透镜，所述的灯罩顶部设有角度调节机构，所述的角度调节机构与横杆外端部固定连接，所述的横杆内端部与支承杆侧面固定连接，所述的支承杆底部的工作台上设有与支承杆配合的移动机构；所述的支承杆上设有与菲涅尔透镜配合的固定结构。它操作简单，使用方便，适用于多种场所。

技术领域

本实用新型涉及领域，具体为一种荧光磁粉探伤设备荧光装置。

背景技术

磁粉探伤利用工件缺陷处的漏磁场与磁粉的相互作用，它利用了钢铁制品表面和近表面缺陷(如裂纹，夹渣，发纹等)磁导率和钢铁磁导率的差异，磁化后这些材料不连续处的磁场将发生崎变，形成部分磁通泄漏处工件表面产生了漏磁场，从而吸引磁粉形成缺陷处的磁粉堆积--磁痕，在适当的光照条件下，显现出缺陷位置和形状，对这些磁粉的堆积加以观察和解释，就实现了磁粉探伤。

专利号为201821190602.8的中国实用专利公开了一种磁粉探伤荧光灯透镜观测装置，包括灯罩和紫外灯管，在灯管下方的10-25厘米处安装一块平板状菲涅尔透镜。包括两根紫外灯管，两根紫外灯管成30-90角度安装在灯罩下方。两根紫外灯管互相垂直。灯罩与灯管固定，而且灯罩与灯管一体化，灯罩的一端固定安装在另设有的一根竖直支承杆上。但是，该装置的灯罩不能调节角度，且支承杆为固定结构，不能移动，不能根据工件的探伤位置方便的移动位置。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种荧光磁粉探伤设备荧光装置，该装置的灯罩可以调节角度，且设有与支承杆配合的移动机构，有效解决背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种荧光磁粉探伤设备荧光装置，包括灯罩和内部呈30-90度安装的紫外灯管，且灯罩下方设有菲涅尔透镜，其特征在于：所述的灯罩顶部设有角度调节机构，所述的角度调节机构与横杆外端部固定连接，所述的横杆内端部与支承杆侧面固定连接，所述的支承杆底部的工作台上设有与支承杆配合的移动机构；

所述的角度调节机构包括固定于灯罩顶部的球头，所述的球头外套置有球帽，所述的球帽顶部与横杆外端部底面固定连接，所述的球帽由外向内贯穿旋拧有第一螺栓；

所述的移动机构包括嵌于工作台上的滑道槽，所述的滑道槽中设有滑块，所述的滑块上端部凸出滑道槽且与支承杆底部固定连接，所述的滑块中内外纵向设有螺孔，所述的螺孔中旋拧有丝杆，所述的丝杆与内端部的电机减速机相连接；

所述的支承杆上设有与菲涅尔透镜配合的固定结构。

优选的，所述的滑道槽为竖切面呈倒T形结构，所述的滑块呈与滑道槽配合的倒T形结构。

优选的，所述的固定结构包括套置于支承杆上的套环，所述的套环左端部通过连接部与菲涅尔透镜固定连接，所述的套环右侧壁由外向内贯穿旋拧有第二螺栓。

优选的，所述的第一螺栓外端部固定设有橡胶套。

优选的，所述的第二螺栓的外端部固定设有橡胶套。

优选的，所述的支承杆底部与滑块顶部焊接固定。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种荧光磁粉探伤设备荧光装置，具备以下有益效果：

1.本实用新型通过灯罩顶部设有角度调节机构，所述的角度调节机构与横杆外端部固定连接，所述的横杆内端部与支承杆侧面固定连接，所述的支承杆底部的工作台上设有与支承杆配合的移动机构，使用时，角度调节机构便于对灯罩调节角度，进而便于观察探伤工件的探伤情况，移动机构使得支承杆和灯罩可以移动，便于根据工件的探伤位置而移动，进一步便于观察探伤工件的探伤情况，提高使用的便利性。