[实用新型]一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板

说明书

本实用新型提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板，包括PCB底板以及设置于其上的测试座、接口区，所述PCB底板通过定位孔固定在分选机上，所述测试座用于固定待测IC并通过线缆连接所述接口区上的34PIN接口，所述34PIN接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。本实用新型能够通用QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号，每种IC在测试时，不需要更换测试座及连接接口，提高了测试效率和更换测试产品的时间，同时能够保证测试的准确性和稳定性，便于IC的大规模的测试量产。

技术领域

本实用新型涉及检测治具领域，具体涉及一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板。

背景技术

IC芯片种类非常多，有模拟IC，数字IC等，不同的IC有不同功能和作用，传统的测试的方法非常麻烦，针对不同的IC芯片需要设计不同的测试板或者测试座，但是由于IC的封装尺寸和脚位是相同的，因此可以考虑设计出一款通用测试板能够通用QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号。

实用新型内容

本实用新型提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板，以解决传统技术中针对不同的IC芯片需要设计不同的测试板或者测试座的问题。

本实用新型提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板，包括PCB底板以及设置于其上的测试座、接口区，所述PCB底板通过定位孔固定在分选机上，所述测试座用于固定待测IC并通过线缆连接所述接口区上的34PIN接口，所述 34PIN接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。

优选的，所述测试座与所述线缆之间设置有金手指。

本实用新型有益效果：

本实用新型提供的一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板，能够通用 QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号，每种IC在测试时，不需要更换测试座及连接接口，提高了测试效率和更换测试产品的时间，同时能够保证测试的准确性和稳定性，便于IC的大规模的测试量产。

附图说明

图1是本实用新型实施例结构示意图。

其中，1-PCB底板，2-测试座，3-接口区，4-线缆，5-定位孔，6-测试座定位孔。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合具体实施例，对本实用新型作进一步地详细说明。

实施例

本实施例提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板，包括PCB底板1 以及设置于其上的测试座2、接口区3，所述PCB底板1通过定位孔5固定在分选机上，所述测试座2用于固定待测IC并通过线缆4连接所述接口区3上的 34PIN接口，所述34PIN接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。

进一步的，所述测试座2与所述线缆4之间设置有金手指。测试座2通过测试座定位孔6安装在所述PVB底板1上。

测试时由分选机把待测试芯片放到测试座2内，测试座通过金手指和线缆4 连接到34PIN接口，整个测试板从34PIN接口连接到测试机上面的测试头进行测试，并返回测试信号。

综上所述，本实用新型提供的一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板，能够通用QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号，每种IC在测试时，不需要更换测试座及连接接口，提高了测试效率和更换测试产品的时间，同时能够保证测试的准确性和稳定性，便于IC的大规模的测试量产。

以上所述仅为本实用新型的实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的权利要求范围。