[实用新型]一种转盘式Demura检测线有效
申请号: | 201921126589.4 | 申请日: | 2019-07-18 |
公开(公告)号: | CN210742405U | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 周小培 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军;高炳龙 |
地址: | 430070 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 转盘 demura 检测 | ||
1.一种转盘式Demura检测线,其特征在于:包括导轨(1),所述导轨(1)至少一侧设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室(2),每个暗室(2)内设置有Mura补偿装置(3),所述导轨(1)上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手(6),所述机械抓手(6)位于所述导轨(1)与所述暗室(2)之间,所述机械抓手(6)和所述暗室(2)的下方设置有转盘(4),所述转盘(4)上沿其周向设置有多组待测件定位工装(5)。
2.根据权利要求1所述的一种转盘式Demura检测线,其特征在于:多组待测件定位工装(5)相对于转盘(4)的中心轴线旋转对称布置。
3.根据权利要求2所述的一种转盘式Demura检测线,其特征在于:所述转盘(4)上旋转对称布置有两组待测件定位工装(5)。
4.根据权利要求3所述的一种转盘式Demura检测线,其特征在于:每组待测件定位工装(5)包括平行布置的两个载板和点灯装置。
5.根据权利要求1所述的一种转盘式Demura检测线,其特征在于:所述暗室(2)包括上光机腔室(21)和下治具封罩(22)。
6.根据权利要求5所述的一种转盘式Demura检测线,其特征在于:所述上光机腔室(21)内设置有多个分腔室(21.1),分腔室(21.1)的个数与待测件定位工装(5)中载板的个数相对应,每个分腔室(21.1)内设置有1个Mura补偿装置(3)。
7.根据权利要求1所述的一种转盘式Demura检测线,其特征在于:所述转盘(4)上布置有n组待测件定位工装(5),至多n-1组待测件定位工装(5)的上方设置有所述暗室(2)。
8.根据权利要求1所述的一种转盘式Demura检测线,其特征在于:所述导轨(1)上滑动配合连接有多个机械抓手(6)。
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