[实用新型]用于半导体处理模块的顶环有效
申请号: | 201921131022.6 | 申请日: | 2019-07-18 |
公开(公告)号: | CN210778476U | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 乔安娜·吴;韩慧玲;克里斯托弗·金博尔;吉姆·塔潘;格里菲·奥尼尔;约翰·德鲁厄里 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01J37/02 | 分类号: | H01J37/02;H01J37/30 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠;张静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 半导体 处理 模块 | ||
1.一种用于半导体处理模块的顶环,所述顶环构造成沿着所述半导体处理模块的衬底支撑件的外围放置,所述顶环的特征在于,
所述顶环的顶侧具有在所述顶环的内边缘和外边缘之间延伸的面向等离子体的表面;
所述顶环的下侧具有设置在所述顶环的所述内边缘和所述外边缘之间的通道;以及
一组凹槽设置在所述下侧上在所述通道和所述外边缘之间。
2.根据权利要求1所述的顶环,其中所述一组凹槽中的每一个由成角度的侧壁限定,其中所述成角度的侧壁形成会聚到一点的开口。
3.根据权利要求2所述的顶环,其中会聚到所述点的所述成角度的侧壁限定V形凹槽。
4.根据权利要求1所述的顶环,其中所述一组凹槽中的每一个用于连接到在所述处理模块内实施的提升销,以提升和降低所述顶环。
5.根据权利要求2所述的顶环,其中所述顶环具有径向横截面,所述径向横截面标识所述凹槽中的一个,在所述凹槽处设置有由所述成角度的侧壁形成的所述点。
6.根据权利要求1所述的顶环,其中所述顶环具有周向横截面,所述周向横截面暴露所述顶侧的所述面向等离子体的表面和所述下侧的所述通道。
7.根据权利要求1所述的顶环,其中顶侧表面经倒角处理,所述顶侧表面限定在所述顶环的所述外边缘处并连接到所述面向等离子体的表面。
8.根据权利要求1所述的顶环,其中底侧表面经圆角处理,所述底侧表面限定在所述顶环的所述外边缘处并连接到所述下侧。
9.根据权利要求1所述的顶环,其中底侧表面经圆角处理,所述底侧表面限定在所述顶环的所述内边缘处并连接到所述下侧,并且
其中顶侧表面经圆角处理,所述顶侧表面限定在所述顶环的所述内边缘处并连接到面向等离子体的表面。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于朗姆研究公司,未经朗姆研究公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921131022.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种UV光解设备净化效果检测装置
- 下一篇:一种密封组件及碳化硅炉