[实用新型]光学式瑕疵检测系统

说明书

本实用新型提供一种光学式瑕疵检测系统，包含：至少一子平台，该子平台承载至少一待测物；一垂直移动控制机构，分别控制该子平台升降至一对应高度；一侧面影像拍摄系统，拍摄该量测平台的该等待测物的一侧面影像；一相机移动控制机构，运作使该第二影像拍摄系统对准位于该对应高度的子平台所承载的该待测物；以及一处理单元，根据该待测物的侧面影像判断该待测物的瑕疵。

技术领域

本实用新型涉及一种光学式瑕疵检测系统，更明确地说明，本实用新型是一种可以进行侧面的瑕疵检测的光学式瑕疵检测系统。

背景技术

自动化检测设备中，光学影像拍摄系统是检测设备中成本比重高的部分，有时需要检测待测物的各种缺陷或瑕疵，光学影像拍摄系统必须搭配不同种类的光源或不同的光亮度取像，甚至还需要看待测物侧面的一些检测区域，如连接端口，USB端口等，但因为一般自动化检测时，同时需要考虑快速量测的效率，一种现有技术就先针对待测物的最多样的检测规格那一面，去做自动化检测，其余少数检测项目的面向，则利用人工辅助作翻转到另一面作目视检测。

另一种现有技术是如果必须进行全自动化检测的话，检测设备必须增设另一工作站别，要做待测料件的翻转机构，或是机械手臂把待测料件做翻面的动作，对准另一相机做拍照取像，设备才可以瑕疵检测。

然而，两种现有技术的翻面的动作，使得检测过程很费时。因此，本实用新型若能提供一种兼具多面检测一待检测物的光学式瑕疵检测系统，可以使检测时程效率提升，将具有产业的实用性。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种兼具多面检测一待检测物的光学式瑕疵检测系统，使待检测物在一量测平台上执行垂直移动控制动作，通过多个影像拍摄系统移动取像，以检测该待检测物的不同检测面。

为了达到上述实用新型目的，本实用新型提供的一种光学式瑕疵检测系统，包含：一量测平台，承载多个待测物；一第一影像拍摄系统，拍摄该量测平台的该等待测物的一第一影像；一水平移动控制机构，运作使该第一影像拍摄系统对准该量测平台的每一待测物；以及一处理单元，根据该待测物的第一影像判断该待测物的瑕疵；该量测平台包含至少一子平台，该子平台承载至少一该待测物，且该光学检测瑕疵系统进一步包含：一垂直移动控制机构，分别控制该子平台升降至一对应高度；一第二影像拍摄系统，拍摄该量测平台的该等待测物的一第二影像；以及一相机移动控制机构，运作使该第二影像拍摄系统对准位于该对应高度的子平台所承载的该待测物；该处理单元根据该待测物的第二影像判断该待测物的瑕疵。

其中，该第一影像显示该待测物的俯视影像，该第二影像显示该待测物的侧视影像。

其中，该水平移动控制机构控制该第一影像拍摄系统或该量测平台水平移动，使该第一影像拍摄系统对准该量测平台的每一待测物。

其中，该水平移动控制机构控制该第一影像拍摄系统水平移动，使该第一影像拍摄系统对准该量测平台的每一待测物。

其中，该水平移动控制机构控制该量测平台水平移动，使该量测平台的每一待测物被该第二影像拍摄系统对准。

其中，该量测平台包含至少两个子平台，每一子平台的对应高度相同，且该相机移动控制机构控制该第二影像拍摄系统水平移动，使该第二影像拍摄系统在对应该子平台的对应高度拍设该待测物的第二影像。

其中，该量测平台包含至少两个子平台，每一子平台的对应高度不相同，且该相机移动控制机构控制该第二影像拍摄系统移动，使该第二影像拍摄系统在对应该子平台的对应高度拍设该待测物的第二影像。