[实用新型]波导型锗基光电探测器有效

专利信息
申请号: 201921180948.4 申请日: 2019-07-25
公开(公告)号: CN210006746U 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 汪巍;方青;涂芝娟;曾友宏;蔡艳;余明斌 申请(专利权)人: 上海新微技术研发中心有限公司
主分类号: H01L31/0232 分类号: H01L31/0232;H01L31/09;H01L31/18
代理公司: 31219 上海光华专利事务所(普通合伙) 代理人: 罗泳文
地址: 201800 上海市嘉定区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 光电探测器 锗基 分布式布拉格反射镜 硅波导 本实用新型 波导型 波导型探测器 光吸收效率 硅波导结构 暗电流 低电容 第一端 高响应 探测器 反射 减小 制备 引入
【权利要求书】:

1.一种硅波导分布式布拉格反射镜集成的波导型锗基光电探测器,其特征在于,包括:

锗基光电探测器;

硅波导结构,连接于所述锗基光电探测器的第一端;

硅波导分布式布拉格反射镜,连接于所述锗基光电探测器的第二端。

2.根据权利要求1所述的硅波导分布式布拉格反射镜集成的波导型锗基光电探测器,其特征在于:所述硅波导分布式布拉格反射镜通过变化硅波导的宽度尺寸或/及高度尺寸实现。

3.根据权利要求1所述的硅波导分布式布拉格反射镜集成的波导型锗基光电探测器,其特征在于:所述硅波导结构的入射光通过直接耦合或消逝波耦合方式进入所述锗基光电探测器。

4.根据权利要求1所述的硅波导分布式布拉格反射镜集成的波导型锗基光电探测器,其特征在于:所述硅波导分布式布拉格反射镜的反射光通过直接耦合或消逝波耦合方式进入所述锗基光电探测器。

5.根据权利要求1所述的硅波导分布式布拉格反射镜集成的波导型锗基光电探测器,其特征在于,所述锗基光电探测器包括:

下接触层;

锗基吸收层,位于所述下接触层上;

上接触层,位于所述锗基吸收层上;

下电极及上电极,分别位于所述下接触层及上接触层上。

6.根据权利要求5所述的硅波导分布式布拉格反射镜集成的波导型锗基光电探测器,其特征在于:所述下接触层具有位于所述锗基吸收层两侧外的凸台接触部,所述下电极形成于所述凸台接触部上。

7.根据权利要求5所述的硅波导分布式布拉格反射镜集成的波导型锗基光电探测器,其特征在于:所述锗基吸收层的材料包括SiGe、Ge、GeSn及GePb中的一种。

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