[实用新型]一种电路测试装置

说明书

本实用新型属于测控领域，具体公开了一种电路测试装置，包括位于常温的检测装置和位于低温的测试功能板，所述测试功能板上设置有若干测试电路；若干所述测试电路的两端分别设置有第一单刀多掷开关和第二单刀多掷开关；所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关均通过连接线连接位于常温的所述检测装置；可以通过切换所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关连通任一所述测试电路；通过所述第一单刀多掷开关的动端和所述第二单刀多掷开关的动端的同步切换，实现原位地切换到任一所述被测件电路，通过所述检测装置测量被测件的参数，也可以原位地切换到其他被测件电路，极大地提高了微波被测件的测试精度与测试效率。

技术领域

本实用新型属于测控领域，特别是一种电路测试装置。

背景技术

在微波领域，为了表征微波元件、系统(统称为被测件)的性能，通常的方法是测量其散射矩阵参数并加以分析。在采用网络分析仪测量被测件时，连接在网络分析仪以及被测件之间的所有测试线路的影响也被包含在网络分析仪的测量结果中，而这一部分实际上是需要排除的。排除测量线路的影响的方法是使用标准校准件，执行线路校准。标准校准件包含直通、50欧姆负载、开路负载、短路负载等多种，校准的过程为：分别对网络分析仪的多端口连接50欧姆负载、开路负载、短路负载等校准件一一校准，然后多端口之间连接直通校准件进行校准，经过这一步处理以后，网络分析仪会将测试线与被测件的连接节点视为网络分析仪的等效端口。

非常明显，这种校准方法要频繁的拆卸测试校准件，后期在进行测试时还需要频繁的拆卸被测件，不能保证测试电缆与被测件连接的一致性，测试效率低并且测试精度差。

特别是进行在极低温条件下的校准和测试时，标准校准件也需要事先置入极低温工作环境，每一个校准件校准结束后，都需要将极低温平台恢复到室温，更换标准校准件，重新冷却到极低温，执行校准测试。所有的线路校准操作完成以后，才能对被测件进行测试。如果被测件拥有大量复杂的端口，以上流程所需要消耗的时间近似和端口数量的平方呈正比。通常，一台10mK的极低温平台的标准工作循环需要消耗2-5天，因此以上整个校准加测试的流程需要至少半个月以上的时间，效率极低。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种电路测试装置，以解决现有技术中的不足，不需要反复拆卸被测件，能够原位地切换到任一被测件连接电路，以完成对被测件的表征测量，甚至可以原位地切换到多个其他被测件，极大地提高了微波被测件的测试精度与测试效率。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种电路测试装置，包括位于常温的检测装置和位于低温的测试功能板，所述测试功能板上设置有若干测试电路；若干所述测试电路的两端分别设置有第一单刀多掷开关和第二单刀多掷开关；所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关均通过连接线连接位于常温的所述检测装置；可以通过切换所述第一单刀多掷开关和所述所述第二单刀多掷开关连通任一所述测试电路。

进一步的，所述若干测试电路在所述测试功能板相互平行设置。

进一步的，任一所述测试电路包括被测件连接电路或校准电路。

进一步的，所述被测件连接电路包括依次连接的第一线路、被测件和第二线路，所述第一线路和所述第二线路均为微带线电路。

进一步的，所述校准电路包括依次连接的第三线路、标准校准件和第四线路；所述标准校准件用于将所述被测件连接电路的两端校准为所述检测装置的等效端口。

进一步的，所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关沿着若干所述测试电路的垂直中心线左右对称设置。

进一步的，所述第一单刀多掷开关的不动端和所述第二单刀多掷开关的不动端均沿着所述测试电路的水平延伸方向设置。

进一步的，所述检测装置为网络分析仪，所述网络分析仪具有第一端口和第二端口；