[实用新型]一种电池片IV、EL双面测试设备有效
申请号: | 201921190131.5 | 申请日: | 2019-07-26 |
公开(公告)号: | CN210120118U | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | 张学强;戴军;张建伟;罗银兵;祝志强;龚艳刚 | 申请(专利权)人: | 罗博特科智能科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677;H01L21/683 |
代理公司: | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 李艾 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电池 iv el 双面 测试 设备 | ||
本实用新型公开了一种电池片IV、EL双面测试设备,包括机台、上料机构、旋转传送机构、测试机构和下料机构,旋转传送机构固定于机台上,旋转传送机构包括四工位分度盘和载具,上料机构、测试机构和下料机构分别沿四工位分度盘的旋转方向设置于机台上或机台侧边,载具沿四工位分度盘四周均匀间隔地向外连接有四个,载具在四工位分度盘的驱动下分别与上料机构、测试机构和下料机构对应,载具为中间镂空的框架结构,测试机构从上下两侧向载具方向夹持。本实用新型能够实现同时对电池片正反两面的测试,且结构紧凑,提高了空间的利用效率,节约成本。
技术领域
本实用新型涉及太阳能电池检测设备技术领域,具体涉及一种电池片IV、EL双面测试设备。
背景技术
为了保证太阳能电池板的工作效率,在加工工序中需要对电池片进行测试,以保障其具备良好的电性能参数。太阳能电池片测试分选是太阳能组件成品生产过程质量控制的重要环节。但是,目前的测试设备主要支持单片的电池片进行测试,即只能对电池片的一面进行测试,无法对电池片的两面同时进行测试,因此,在具体实施过程中,要在完成电池片一面的测试后再手动进行电池片另一面的测试,测试过程繁琐复杂,测试设备占地庞大,成本高。
综上,目前关于双面电池片在测试过程中无法同时进行测试的问题,尚无有效的解决办法。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种电池片IV、EL双面测试设备,能够实现同时对电池片正反两面的测试,且结构紧凑,提高了空间的利用效率,节约成本。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供了一种电池片IV、EL双面测试设备,包括机台、上料机构、旋转传送机构、测试机构和下料机构,所述旋转传送机构固定于机台上,所述旋转传送机构包括四工位分度盘和载具,所述上料机构、测试机构和下料机构分别沿所述四工位分度盘的旋转方向设置于所述机台上或机台侧边,所述载具沿四工位分度盘四周均匀间隔地向外连接有四个,所述载具在四工位分度盘的驱动下分别与上料机构、测试机构和下料机构对应,所述载具为中间镂空的框架结构,所述测试机构从上下两侧向所述载具方向夹持。
进一步的,所述载具侧边向内延伸连接有若干吸盘,所述四工位分度盘包括DD电机和转盘,所述载具连接于所述转盘四周,所述机台下方设置有气动滑环,真空管道穿过所述DD电机和机台连通所述吸盘和气动滑环。
进一步的,所述载具包括外框和底板,所述外框和底板之间存在空气流道,所述空气流道的抽气口位于所述载具与所述转盘连接的一端,所述真空管道通过所述空气流道连通所述吸盘。
进一步的,所述DD电机中心还设置有驱动杆,所述驱动杆的一端通过限位盘连接所述DD电机的转子,所述驱动杆的另一端连接所述气动滑环,所述限位盘四周设置有供所述真空管道穿过的限位槽。
进一步的,所述上料机构包括设置在机台上的第一直线模组、与第一直线模组相连的上料吸盘以及位于上料吸盘下方的支撑组件,所述第一直线模组为三轴直线模组,所述上料吸盘与所述三轴直线模组之间通过旋转电机相连,所述支撑组件上方还设置有定位相机。
进一步的,所述支撑组件为传送带组件,所述传送带组件远离所述四工位分度盘的一端向下倾斜设置有接料盒。
进一步的,所述测试机构包括正面测试仪、背面测试仪、上探针排、下探针排和探针运动机构,所述正面测试仪和背面测试仪包括测试部和照明部,所述正面测试仪和上探针排位于所述载具上方,所述背面测试仪和下探针排位于所述载具下方,所述上探针排和下探针排均与所述正面测试仪和背面测试仪的测试部电连接,所述上探针排和下探针排均由所述探针运动机构驱动上下相对移动。
进一步的,所述正面测试仪的照明部指向所述载具,所述背面测试仪水平设置,所述背面测试仪的照明部与所述载具之间设置有反射镜。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造