[实用新型]一种用于纳米催化发光检测的温度控制系统

权利要求书

1.一种用于纳米催化发光检测的温度控制系统，其特征在于包括用于测量石英反应室温度的第一温度传感器、第一温控器、电加热丝和用于测量微弱发光检测元件温度的第二温度传感器、半导体制冷片、水冷腔体、第二温控器及蠕动水泵；所述第一温度传感器连接于第一温控器，第一温控器与所述电加热丝连接，所述第二温度传感器连接于第二温控器，第二温控器与半导体制冷片和蠕动水泵连接。

2.如权利要求1所述的温度控制系统，其特征在于所述第一温度传感器安装于所述石英反应室内部。

3.如权利要求1所述的温度控制系统，其特征在于所述第二温度传感器贴于所述微弱发光检测元件的外壁。

4.如权利要求1所述的温度控制系统，其特征在所述第一温控器的控制温度范围为100℃-500℃。

5.如权利要求1所述的温度控制系统，其特征在所述第二温控器的控制温度范围为-20℃-20℃。

6.如权利要求1所述的温度控制系统，其特征在于所述第一温度传感器为热电偶。

7.如权利要求1所述的温度控制系统，其特征在于所述第二温度传感器为热电阻。

8.如权利要求1所述的温度控制系统，其特征在于当第一温度传感器或第二温度传感器故障或检测温度异常时，第一温控器和第二温控器联锁停止工作并触发报警。