[实用新型]批量数字温度传感器自动测试装置有效
| 申请号： | 201921204418.9 | 申请日： | 2019-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN210243033U | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 张俊;邓念平;彭文彬;张勇;杨怡;周俊;刘焕;李明;赵文;魏梦琳;刘苗;张航 | 申请（专利权）人： | 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 徐祥生 |
| 地址： | 432000*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 批量 数字 温度传感器 自动 测试 装置 | ||
1.一种批量数字温度传感器自动测试装置，包括计算机(1)、显示器(2)、控制采样器(3)和试验工装(4)，其特征在于：控制采样器(3)包括第一采样单元(3.1)、第二采样单元(3.2)和控制单元(3.3)，试验工装(4)包括放置标准电阻的第一工装(4.1)和放置被测传感器的第二工装(4.2)，第二工装(4.2)设置有3个以上被测传感器工位，第一工装(4.1)的信号输出端与第一采样单元(3.1)的信号输入端连接，第二工装(4.2)的信号输出端与第二采样单元(3.2)的信号输入端连接，第一采样单元(3.1)和第二采样单元(3.2)的信号输出端分别与计算机(1)的信号输入端连接，计算机(1)的信号输出端与控制单元(3.3)的信号输入端连接，控制单元(3.3)的信号输出端分别与第一采样单元(3.1)和第二采样单元(3.2)的控制信号输入端连接，显示器(2)与计算机(1)连接。
2.根据权利要求1所述的批量数字温度传感器自动测试装置，其特征在于：所述第二采样单元(3.2)为多通道并行采样单元。
3.根据权利要求1或2所述的批量数字温度传感器自动测试装置，其特征在于：所述第二工装(4.2)设置有40个被测传感器工位。
4.根据权利要求1或2所述的批量数字温度传感器自动测试装置，其特征在于：所述第一工装(4.1)内放置的标准电阻为高精度铂电阻。
5.根据权利要求3所述的批量数字温度传感器自动测试装置，其特征在于：所述第一工装(4.1)内放置的标准电阻为高精度铂电阻。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖北航天技术研究院计量测试技术研究所，未经湖北航天技术研究院计量测试技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921204418.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种高低双棱镜装置
- 下一篇：一种可调节锤击方向的轻型动力触探设备
