[实用新型]微电阻点焊质量双面红外检测装置有效

专利信息
申请号: 201921219535.2 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN210639116U 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 范秋月;王吉波 申请(专利权)人: 龙岩学院
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 王怡敏
地址: 364012 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 电阻 点焊 质量 双面 红外 检测 装置
【说明书】:

本实用新型涉及一种微电阻点焊质量双面红外检测装置,属于微型电阻点焊领域。非接触式加热模块的灯丝固定在闪光灯电子件上,凸透镜Ⅰ置于灯丝和光学积分球之间,光学积分球固定在非接触式加热模块壳体内;光源性能调理模块壳体与非接触式加热模块壳体固定连接,凸透镜Ⅱ、凹透镜共同组成光源性能调理模块;微型激光瞄准器Ⅰ、Ⅱ固定在光源性能调理模块壳体的前面,与PCI控制器连接;工件上的微电阻点焊接头置于光源性能调理模块的下方,红外反射镜Ⅰ、Ⅱ分别放置在微电阻点焊接头的上下两侧,并分别与红外探测仪相配合。优点在于:首次实现了微电阻点焊质量的无损检测,该装置检测效率高,使用方便。

技术领域

本实用新型涉及焊接领域,特别涉及微型电阻点焊领域,尤指一种微电阻点焊质量双面红外检测装置。

背景技术

微型电阻点焊技术在电池包装、医疗器械、电子装置等制造过程中得到广泛应用,随着智能化技术的发展,对微型电阻点焊质量的要求不断提高。微型电阻点焊工件较薄,一直以来缺乏可靠的质量检测手段。

目前微电阻点焊质量主要依靠人工检测手段,但是质量检测员连续工作极易产生疲劳,易产生漏检部分点焊接头的问题。这种方式不仅效率低,而且也无法科学地、定量检测焊接质量。因此,实现微电阻点焊质量的自动化、智能化检测具有重要现实意义。

目前对常规电阻点焊质量检测方式有超声波检测、射线检测等,尤其是超声波检测在常规点焊检测中取得了良好应用效果。射线检测一般用于铝合金材料的检测,检测效率较高,但是由于点焊接头内部组织结构的复杂性,检测效果并不理想。

超声波无损检测手段在薄件、超薄件方面一直未得到满意的解决方案,检测对象的厚度与超声波探头性能密切相关。在薄件检测中一般要求超声波探头发射频率较高,波形较窄,限于目前技术手段,无法满足工件厚度约小于0.3毫米的微电阻点焊质量检测。

另外,微电阻点焊焊接时间及短,一般持续在2-3毫秒,较高的焊接效率使得超声波在线检测较为困难。因此,现有的点焊接头质量检测方式很难满足微电阻点焊生产的需要,亟待新的检测方式的提出。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种微电阻点焊质量双面红外检测装置,解决了现有技术存在的微电阻点焊薄板焊接的质量检测技术难题。本实用新型是一种利用非接触式加热系统与红外反射镜、红外探测器相结合的主动红外检测方式。非接触式恒定热源功率加热灯对微电阻点焊接头单面加热,红外反射镜对微电阻点焊接头双面的热图像进行反射,红外探测器接收到热图像,显现出微电阻点焊接头内部缺陷、熔核尺寸、虚焊等问题点焊接头。

本实用新型的上述目的通过以下技术方案实现:

微电阻点焊质量双面红外检测装置,闪光灯电子件2、灯丝3、凸透镜Ⅰ4、光学积分球5共同组成非接触式加热模块,并置于非接触式加热模块壳体1内,所述灯丝3固定在闪光灯电子件2上,凸透镜Ⅰ4置于灯丝3和光学积分球5之间,光学积分球5通过支架固定在非接触式加热模块壳体1内;光源性能调理模块壳体8与非接触式加热模块壳体1固定连接,凸透镜Ⅱ6、凹透镜7共同组成光源性能调理模块,并置于光源性能调理模块壳体8内;微型激光瞄准器Ⅰ9.1与微型激光瞄准器Ⅱ9.2固定在光源性能调理模块壳体8的前面,与 PCI控制器13连接;工件11上的微电阻点焊接头置于光源性能调理模块的下方,红外反射镜Ⅰ10.1、红外反射镜Ⅱ10.2分别放置在微电阻点焊接头的上下两侧,并分别与红外探测仪 12相配合;红外探测仪12、非接触式加热模块通过PCI控制器13与工业主机14相连,工业主机14与工业显示器15相连。

所述的微型激光瞄准器Ⅰ9.1与微型激光瞄准器Ⅱ9.2发射低功率激光对工件11上的微电阻点焊接头进行定位瞄准,确保非接触式加热模块的加热位置瞄准待加热位置。

所述的非接触式加热模块产生高功率的均匀的平行光,并根据检测的微电阻点焊板厚控制加热时间,以获取最佳检测温度;

所述光学积分球5的位置根据下列公式确定:

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