[实用新型]一种检测规装置

说明书

本实用新型涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种检测规装置，括底板、第一凹槽、第二凹槽、若干个第一凸柱、若干个第二凸柱及至少两个定位部；所述第一凹槽设于底板的顶部；所述第二凹槽位于第一凹槽内，所述第二凹槽靠近底板的侧壁设置，所述第二凹槽设有缺口；所述第一凸柱位于第一凹槽内，所述第二凸柱位于底板的顶部；两个所述定位部设于底板的顶部，两个所述定位部与所述第一凹槽间距设置，两个所述定位部间距设置，每个所述定位部均始自底板的表面并朝向远离底板的方向延伸；通过在底板设置第一凹槽、第二凹槽、若干个第一凸柱、若干个第二凸柱及至少两个定位部，实现一次性全检的目的，提高检测的效率及检测的质量。

技术领域

本实用新型涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种检测规装置。

背景技术

电子产品生产加工完毕，进入品检工序，当电子产品有定位孔时，则需要对定位孔的位置及定位孔的孔径进行一一检测，当电子产品包含定位孔数量较少时，品检工作量小，耗时相对较少，但是当电子产品包含较多数量的定位孔时，传统检测方式严重影响电子产品的生产检测效率。

发明内容

为了克服现有技术中存在的检测电子产品效率低的缺点，本实用新型的目的在于提供一种检测规装置，提高检测效率。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案为：

一种检测规装置，包括底板、第一凹槽、第二凹槽、若干个第一凸柱、若干个第二凸柱及至少两个定位部；

所述第一凹槽设于底板的顶部；

所述第二凹槽位于第一凹槽内，所述第二凹槽靠近底板的侧壁设置，所述第二凹槽设有缺口；

所述第一凸柱位于第一凹槽内，所述第二凸柱位于底板的顶部；

两个所述定位部设于底板的顶部，两个所述定位部与所述第一凹槽间距设置，两个所述定位部间距设置，每个所述定位部均始自底板的表面并朝向远离底板的方向延伸。

进一步的，所述定位部呈L状。

进一步的，两个所述定位部以底板的中心轴线呈对称设置。

进一步的，每个所述第一凸柱均设有第一圆角部，所述第一圆角部设于第一凸柱远离底板的一侧。

进一步的，每个所述第二凸柱均设有第二圆角部，所述第二圆角部设于第一凸柱远离底板的一侧。

本实用新型的有益效果：通过在底板设置第一凹槽、第二凹槽、若干个第一凸柱、若干个第二凸柱及至少两个定位部，实现一次性全检的目的，提高检测的效率及检测的质量。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型与待检测工件拆分状态结构示意图；

图3为本实用新型检测待检测工件时的状态结构示意图。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例及附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。

请参阅图1至图3，本实用新型的一种检测规装置，包括底板、第一凹槽1、第二凹槽2、若干个第一凸柱3、若干个第二凸柱4及至少两个定位部5；

所述第一凹槽1设于底板的顶部；

所述第二凹槽2位于第一凹槽1内，所述第二凹槽2靠近底板的侧壁设置，所述第二凹槽2设有缺口21；

所述第一凸柱3位于第一凹槽1内，所述第二凸柱4位于底板的顶部；