[实用新型]一种光学组件、发射单元、传感模组及电子设备

权利要求书

1.一种光学组件，其特征在于：包括第一调制元件和第二调制元件，所述第一调制元件与第二调制元件相互连接，所述第二调制元件用于将所透过的光线的光场按照预设规则进行重新排布，所述第一调制元件包括第一电极、第二电极及设置在第一电极和第二电极之间的调制层，所述第一电极和第二电极用于对所述调制层施加电场，所述调制层能够随着所述电场的电场强度变化至少在透明状态和散射状态之间进行转换，所述第一调制元件用于对透过第二调制元件的光线进行再次调制。

2.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第二调制元件与第一调制元件之间直接连接或者间接连接。

3.如权利要求2所述的光学组件，其特征在于，所述第二调制元件贴合在所述第一调制元件上。

4.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述调制层选自正式聚合物分散液晶层、反式聚合物分散液晶层、聚合物网络液晶层及双稳态胆甾相液晶层中的任意一种。

5.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第一调制元件的调制层处于透明状态时，透过所述第一调制元件的光线的雾度小于或等于10％。

6.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第一调制元件的调制层处于散射状态时，透过所述第一调制元件的光线的雾度大于或等于70％。

7.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第二调制元件为衍射光学元件。

8.一种发射单元，其特征在于，包括检测处理器及如权利要求1至7中任意一项所述的光学组件，所述检测处理器分别与第一电极和第二电极连接，所述检测处理器用于通过第一电极和第二电极检测第一调制元件的电学特性值并根据所测得的第一调制元件的电学特性值来判断所述光学组件是否破损。

9.如权利要求8所述的发射单元，其特征在于：所述第一调制元件的电学特性值包括电阻值和/或电容值。

10.如权利要求8所述的发射单元，其特征在于：所述检测处理器为比较电路，用于比较所测得的第一调制元件的电学特性值与预设的标准值，并根据比较结果判断所述第一调制元件是否破损。

11.如权利要求10所述的发射单元，其特征在于：所述预设的标准值为第一调制元件完好时所测得的电容值，若检测所得的第一调制元件的电容值与预设标准值的差值超出预设的误差范围，则所述检测处理器判断所述光学组件破损。

12.如权利要求8-11中任意一项所述的发射单元，其特征在于：还包括光源，所述光源用于发射检测光线，所述光源与检测处理器相连接，所述检测处理器在判断出第一调制元件破损时关闭所述光源。

13.如权利要求8-11中任意一项所述的发射单元，其特征在于，还包括底座，所述底座上开设有多层台阶状的容置槽，所述容置槽包括底面，所述底面包括位于中间部分的连通部及围绕在连通部外围的支撑部，位于上层的容置槽在底面连通部所在区域向下开设出位于下层的容置槽，上层容置槽的连通部被挖空而形成下层容置槽的开口，所述第一调制元件固定连接在其中一层容置槽底面的支撑部上。

14.如权利要求13所述的发射单元，其特征在于，所述第二调制元件与第一调制元件直接连接，所述第二调制元件不与底座直接连接。

15.如权利要求13所述的发射单元，其特征在于，所述第二调制元件和第一调制元件分别固定连接在不同层的两个容置槽底面的支撑部上，所述第二调制元件与第一调制元件之间不直接连接。