[实用新型]一种RFID标签测试系统

说明书

本实用新型提供一种RFID标签测试系统，包括测试机、探针卡、温度传感器、射频阅读器、加热设备和降温设备，所述测试机分别连接探针卡、温度传感器和射频阅读器，所述探针卡用于放置被测标签的射频标签芯片，所述温度传感器、加热设备和降温设备都设在靠近探针卡的边缘处。在完成了射频标签芯片的测试和温度影响数据写入后，被测标签在实际运用时，其射频标签芯片向射频天线输入射频电流以使得射频天线能向外界发出射频信号，在射频天线的发射功率在受到温度影响而改变后，射频标签芯片能根据其存储的温度影响数据来调节输入到射频天线的射频电流，从而使得射频天线的发射功率受到温度影响的部分得到补偿，即射频天线的发射功率保持不变。

技术领域

本实用新型涉及RFID标签技术领域，特别涉及一种RFID标签测试系统。

背景技术

射频识别技术(RFID)是利用射频信号实现的一种非接触式自动识别技术，它利用射频方式进行非接触式双向通信，从而达到对目标对象的自动识别和相关数据采集。随着RFID技术在冷链跟踪、仓储、运输及智能监控领域的应用日益加强，在RFID标签内集成低压、低功耗的温度传感器的技术可以为易腐坏食品、药品和物流中任何其他对温度敏感的物品采集温度信息，也可以对专用仓库内重要物资，如粮食、薯类等温度监测；也可以对建筑材料、机器零部件进行温度监测，因此该项技术得到了很多的研究和关注。

RFID标签包括RFID标签芯片和射频天线，RFID标签在使用时，RFID标签芯片会控制射频天线以一定功率发射射频信号，但利用RFID标签进行温度监测时，RFID标签的射频天线在高温或低温的影响下，其性能会受到影响，使得发射功率受到影响而改变，造成不便。现有一种RFID标签，其为避免射频天线的发射灵敏度受到温度影响，在标签外部设置隔热层，但这样会导致RFID标签体积过大，使用不便。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是为软件工程师提供一种RFID标签测试系统的硬件结构，以使得软件工程师对该硬件结构中的测试机进行编程后，RFID标签测试系统能使得RFID标签的射频天线的发射功率在受到温度影响后保持不变。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种RFID标签的测试调节系统，包括测试机、探针卡、温度传感器、射频阅读器、加热设备和降温设备，所述测试机分别连接探针卡、温度传感器和射频阅读器，所述探针卡用于放置被测标签的射频标签芯片，所述温度传感器、加热设备和降温设备都设在靠近探针卡的边缘处。

优选地，所述测试机与射频阅读器之间通过RF线连接。

优选地，所述测试机与温度传感器之间通过RF线连接。

优选地，所述测试机是chroma测试机。

本实用新型提供的硬件结构具有以下有益效果：在软件工程师对硬件结构中的测试机进行编程后，工作人员把被测芯片的射频标签芯片放在探针卡上，在测试机向温度传感器、射频阅读器和被测芯片的射频标签芯片发送工作指令后，射频标签芯片向射频天线输入射频电流以使得射频天线能向外界发出射频信号，射频阅读器接收该射频信号后传至测试机，温度传感器实时检测环境温度，工作人员再分别利用外界的加热设备模拟出高温环境，利用降温设备模拟出低温环境，射频阅读器在此过程中继续接收射频天线发出的射频信号，并把射频信号数据传至测试机，且温度传感器也继续检测环境温度，则测试机就能接收到来自温度传感器的常温数据、高温数据和低温数据，且接收到来自射频阅读器的常温射频信号数据、高温射频信号数据和低温射频数据，测试机再根据这三个温度数据和三个射频信号数据来得出射频天线的发射功率受到的温度影响情况，并把相应的温度影响数据写入被测标签的射频标签芯片的存储器中，至此完成了射频标签芯片的测试和温度影响数据写入。被测标签在实际运用时，其射频标签芯片向射频天线输入射频电流以使得射频天线能向外界发出射频信号，在射频天线的发射功率在受到温度影响而改变后，射频标签芯片能根据其存储的温度影响数据来调节输入到射频天线的射频电流，从而使得射频天线的发射功率受到温度影响的部分得到补偿，即射频天线的发射功率保持不变。