[实用新型]一种射频芯片测试系统

说明书

本实用新型提供一种射频芯片测试系统，包括控制设备、射频功率测试仪和自动分选机，所述控制设备分别电连接射频功率测试仪和自动分选机，所述自动分选机包括芯片放置台和多个芯片取放头，所述芯片放置台上设有多个芯片放置位，各个芯片取放头一一对应各个芯片放置位。由于自动分选机设有多个芯片取放头，且芯片放置台上设有多个芯片放置位，控制设备可同时对多个射频芯片进行测试，因此射频芯片测试系统效率高。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种射频芯片测试系统。

背景技术

随着5G建设的进行，国内对于相关射频器件和芯片的需求日益增加，而因为5G通讯精度相比以前大大提升，对于LNA射频芯片的要求也就更高了，因此需对射频芯片进行一系列的电流和射频功率测试。但目前常用的集成电路自动化测试系统只能同时对单个射频芯片进行测试，导致射频芯片的测试效率低下，并不能很好地满足射频芯片的测试需求。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是为软件工程师提供一种芯片测试系统的硬件结构，以使得软件工程师对该硬件结构中的控制设备进行编程后，芯片测试系统能高效率地对多个射频芯片进行测试。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种射频芯片测试系统，包括控制设备、射频功率测试仪和自动分选机，所述控制设备分别电连接射频功率测试仪和自动分选机，所述自动分选机包括芯片放置台和多个芯片取放头，所述芯片放置台上设有多个芯片放置位，各个芯片取放头一一对应各个芯片放置位。

优选地，所述芯片放置台为圆形，所述多个芯片取放头环绕所述圆形芯片放置台。

优选地，所述芯片放置位环绕圆形芯片放置台的圆心设置。

优选地，所述芯片取放头是尾端带有吸头的机械臂。

优选地，所述控制设备是ATE自动化测试设备。

本实用新型提供的硬件结构具有以下有益效果：在软件工程师对硬件结构中的控制设备进行编程后，由于自动分选机设有多个芯片取放头，且芯片放置台上设有多个芯片放置位，控制设备可同时对多个射频芯片进行测试，因此射频芯片测试系统效率高。

附图说明

图1是射频芯片测试系统的电路连接框图；

图2是自动分选机的结构示意图；

图3是自动分选机的芯片放置台和芯片取放装置相互配合的结构示意图。

附图标记说明：1-ATE自动化测试设备；2-射频功率测试仪；3-自动分选机；4-芯片放置台；5-芯片取放头。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本申请的示例性实施例。虽然附图中显示了本申请的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本申请而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本申请，并且能够将本申请的范围完整的传达给本领域的技术人员。

如图1所示，芯片测试系统包括ATE自动化测试设备1、射频功率测试仪2和自动分选机3，ATE自动化测试设备1分别电连接射频功率测试仪2和自动分选机3。