[实用新型]一种灵敏度测试装置

说明书

本申请公开了一种灵敏度测试装置，用于测试待测压电薄膜的灵敏度，该灵敏度测试装置包括测试组件及检测组件，测试组件包括夹具、测试架，夹具用于夹置待测压电薄膜，测试架包括支架、升降机构和质量块，升降机构固定在支架上，质量块通过升降机构用于实现靠近或远离待测压电薄膜；检测组件用于电连接待测压电薄膜，当升降机构带动质量块离开待测压电薄膜的表面时，检测组件用于接收待测压电薄膜产生的测试数据，该灵敏度测试装置以撤离式对压电薄膜进行灵敏度测试，保证作用力恒定，减小外界干扰与测试装置的磨损，提升了测试准确度，延长测试装置的使用寿命，从而提供了一种灵敏度测试装置。

技术领域

本申请涉及一种测试装置领域，尤其涉及一种灵敏度测试装置。

背景技术

压电薄膜是一种灵敏度非常高的动态应变传感器。供应商生产压电薄膜会出现灵敏度不同的情况，而压电薄膜的灵敏度对信号采集能力影响很大，当灵敏度不符合要求时，不利于后续信号的采集和分析。目前已有的用于测试压电薄膜灵敏度的测试装置，主要是采用砝码跌落式进行测试，即，将砝码跌落至被测的压电薄膜上表面，在此过程中通过对压电薄膜感应到的压力变化而产生的电信号进行处理，完成压电薄膜的灵敏度测试。然而，由于该方式中砝码跌落至压电薄膜的过程会对压电薄膜存在一定的冲击力，当长时间使用后，与压电薄膜接触的砝码会出现一定程度上的磨损，其与压电薄膜接触的表面会出现不平整，导致砝码与压电薄膜接触不均而受力不均，对于压电薄膜这种极为灵敏的传感器来说，会影响最后的测试结果。

发明内容

本申请实施例提供了一种灵敏度测试装置。

本申请实施例提供了一种灵敏度测试装置，用于测试待测压电薄膜的灵敏度，包括：测试组件，所述测试组件包括夹具、测试架，所述夹具用于夹置所述待测压电薄膜，所述测试架包括支架、升降机构和质量块，所述升降机构固定在所述支架上，所述质量块通过所述升降机构用于实现靠近或远离所述待测压电薄膜；及检测组件，所述检测组件用于电连接所述待测压电薄膜，当所述升降机构带动所述质量块离开所述待测压电薄膜的表面时，所述检测组件用于接收所述待测压电薄膜产生的测试数据。

其中，所述升降机构包括按压柱、弹性件和连接件，所述按压柱沿着竖直方向滑动连接于所述支架上，所述弹性件设于所述按压柱和所述支架上，所述弹性件在所述按压柱和所述支架的作用下受到压缩或拉伸，所述连接件连接于所述质量块和所述按压柱之间，当所述按压柱不受外力而使所述弹性件处于自然形变状态时，所述连接件带动所述质量块沿着竖直向上的方向运动。

其中，所述测试架还包括挡块，所述挡块转动连接于所述支架，且所述挡块能转动至抵接于所述按压柱，当所述挡块抵接于所述按压柱上时，所述弹性件处于弹性压缩状态。

其中，所述连接件为挂线，所述质量块上设有挂扣，所述连接件连接至所述质量块的所述挂扣上。

其中，当所述质量块静止放置在所述待测压电薄膜上，所述挂线为松弛状态，当所述弹性件处于自然形变状态时，所述挂线为收紧状态。

其中，所述弹性件为套设在所述按压柱内的螺旋弹簧。

其中，所述夹具包括第一夹板和第二夹板，所述第一夹板与所述第二夹板之间用于夹置所述待测压电薄膜，所述第一夹板上开设有测试通孔，所述第一夹板与所述第二夹板中的所述待测压电薄膜通过所述测试通孔露出，所述第一夹板的测试通孔的对准所述质量块。

其中，所述测试架的数量至少为两个以上，所述夹具上至少开设有两个以上的所述测试通孔，一个所述测试架上的所述质量块对准一个所述第一夹板上的测试通孔。

其中，所述第一夹板与所述第二夹板均为屏蔽板，以使所述夹具上的所述待测压电薄膜的数据传输不受外界数据的干扰。

其中，相邻所述测试架间的间隔距离相同。