[实用新型]成像装置及检测系统

说明书

本实用新型公开了一种成像装置及检测系统，所述成像装置用于对待测物体的表面显示成像，所述成像装置包括：第一成像单元和第二成像单元，第一成像单元具有显示成像的第一成像光路，待测物体具有面向第一成像单元的第一待测面和第二待测面，第一待测面经过第一成像光路在第一成像单元上对焦显示成像；第二成像单元具有显示成像的第二成像光路，所述第二成像光路中设置有光路延长结构，光路延长结构用于延长所述第二成像光路的光路长度，第二待测面经过第二成像光路在第二成像单元上对焦显示成像。本实用新型提供一种成像装置，能够避免移动切换成像单元，有效提高拍摄成像的效率。

技术领域

本实用新型涉及成像检测技术领域，尤其涉及成像装置及检测系统。

背景技术

在精密视觉检测中，随着测量精度要求的提升，一般来说要达到微米或者亚微米级，通常需要检测两个面或者多个不同面的高度差是否合格，目前的做法是采用同一相机对两不同高度面分别成像，由于高度差的存在，需要移动相机，由此导致拍摄成像的效率低。

实用新型内容

基于此，针对传统上针对高度不同的两个表面，需要移动拍摄相机分别成像，导致拍摄成像的效率低的问题，有必要提供一种成像装置及检测系统，能够有效提高拍摄成像的效率。

为实现上述目的，本实用新型提出的成像装置，所述成像装置用于对待测物体的表面显示成像，所述成像装置包括：

第一成像单元，具有显示成像的第一成像光路，所述待测物体具有面向所述第一成像单元的第一待测面和第二待测面，所述第一待测面经过所述第一成像光路在所述第一成像单元上对焦显示成像；

第二成像单元，具有显示成像的第二成像光路，所述第二成像光路中设置有光路延长结构，所述光路延长结构用于延长所述第二成像光路的光路长度，所述第二待测面经过所述第二成像光路在所述第二成像单元上对焦显示成像。

可选地，所述第一成像单元和所述第二成像单元的显示成像方向同向设置，且均面向所述待测物体，所述第一待测面和所述第二待测面距离所述第一成像单元的距离不同，所述第一成像单元用于成像所述第一待测面，所述第二成像单元用于成像所述第二待测面。

可选地，所述第一成像光路中设置有分光件，所述分光件用于将所述待测物体表面的反射光束分成沿所述第一成像光路传播的第一成像光束，以及，沿所述第二成像光路传播的第二成像光束。

可选地，所述分光件为分光棱镜，所述分光棱镜用于将所述待测物体表面的反射光束分成透射的所述第一成像光束，以及，用于分成反射的所述第二成像光束，所述光路延长结构为反射镜，所述反射镜设置于所述第二成像单元和所述分光棱镜之间的第二成像光路中，以延长所述第二成像光路的长度。

可选地，所述分光棱镜具有用于分束所述第一成像光束和所述第二成像光束的分光面，所述反射镜具有用于反射所述第二成像光束的反射面，所述分光面和所述反射面平行设置，且所述分光面和所述第一成像光束的入射方向夹角为45°。

可选地，所述成像装置中设置有照明件，所述照明件用于面向所述待测物体照明。

可选地，所述第一成像单元至所述分光件的所述第一成像光路中设置有第一对焦镜头，所述第二成像单元至所述反射镜之间的所述第二成像光路中设置有第二对焦镜头，所述第一对焦镜头和所述第二对焦镜头用于会聚光线显示成像。

可选地，所述成像装置包括外壳，所述第一成像单元、所述第二成像单元以及所述光路延长结构均设置于所述外壳内。

可选地，所述成像装置还包括第三成像单元，所述第三成像单元具有与所述第一成像光路和所述第二成像光路的光路长度均不同的第三成像光路，所述待测物体具有面向所述第一成像单元的第三待测面，所述第三待测面距离所述第一成像单元与所述第一待测面和所述第二待测面不同，所述第三成像单元用于成像所述第三待测面。