[实用新型]一种高低温测试分选一体机

说明书

本实用新型公开了一种高低温测试分选一体机，涉及半导体自动工业化生产领域，投放装置；第一常温检测装置，接收来自投放装置的元器件，对元器件进行第一次常温电性参数测试；低温检测装置，对元器件进行低温电性参数测试；中转装置，接收来自低温检测装置的元器件，再将元器件转移至下道工序；高温检测装置，对元器件进行高温电性参数测试；第二常温检测装置，接收来自高温检测装置的元器件，对元器件进行第二次常温电性参数测试；位置纠正装置，对元器件的方向位置纠正处理，本实用新型通过合理布局，将多个温度区间的测试设备完整地集成在一台设备上，节省了场地空间，减少产品搬运时间，节约了成本，提高了工作效率。

技术领域

本实用新型涉及半导体自动工业化生产领域，具体涉及一种高低温测试分选一体机。

背景技术

由于现代社会发展的需要，电子装备产品使用的要求与性能的越来越高，要求电子元器件不仅具有良好性能与可靠性，而且能够适应常温(20℃～30℃)、高温(80℃～150℃)或者低温(0℃～-50℃)环境状态下进行各类性能检测。

通常在常温环境下，进行半导体电子元器件性能测试相对比较容易，在高温或者低温环境状态下相对较难，因机械设计、材料结构、工艺技术等限制，很难将半导体电子元器件集成在一台设备上进行高低温测试。通常采用独立的常温测试设备、高温测试设备、低温测试设备等组成工艺流程，来完成这类电子元器件需要高低温测试的要求，这样会导致设备使用场地大，成本较高。然而，国外进口的高低温一体机设备价格昂贵，对中小企业前期投资大，严重的制约了中小企业的发展。

实用新型内容

根据以上现有技术的不足，本实用新型所要解决的技术问题是提出一种高低温测试分选一体机，通过合理布局，将多个温度区间的测试设备完整地集成在一台设备上，节省了场地空间，减少产品搬运时间，节约了成本，提高了工作效率。

一种高低温测试分选一体机，包括：

投放装置，进行元器件的输送，并对所述元器件进行分离排序；

第一常温检测装置，接收来自所述投放装置分离排序后的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行低温测试前的第一次常温电性参数测试，并记录所述第一次常温电性参数测试的信息数据；

低温检测装置，接收来自所述第一常温检测装置的元器件，提供低温检测的环境，对元器件进行低温电性参数测试，并记录所述低温电性参数测试的信息数据；

中转装置，接收来自所述低温检测装置的元器件，低温状态下的元器件与室温空气进行温度传导，元器件吸热逐渐恢复到室温，再将元器件转移至下道工序；

高温检测装置，接收来自所述中转装置的元器件，提供高温检测的环境，对元器件进行高温电性参数测试，并记录所述高温电性参数测试的信息数据；

第二常温检测装置，接收来自所述高温检测装置的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行高温测试后的第二次常温电性参数测试，并记录所述第二次常温电性参数测试的信息数据；

位置纠正装置，设置在投放装置和第一常温检测装置之间以及高温检测装置和所述第二常温检测装置之间，对元器件的方向位置纠正处理，使每一个元器件方向位置保持一致。

可选的，所述投放装置包括振动送料器、元器件检测杆、静电消除风扇、气动送料轨道和高速分离机构，所述振动送料器具有输入端和输出端，振动送料器的输入端设置为元器件储放盘，振动送料器的输出端连接有所述气动送料轨道的输入端，振动送料器的侧部设有对元器件进行检测的所述元器件检测杆和消除元器件静电的静电消除风扇，气动送料轨道的输出端设有所述高速分离机构，高速分离机构的侧部设有驱动高速分离机构对元器件进行分离的分离驱动电机。