[实用新型]探针单元有效

专利信息
申请号: 201921274433.0 申请日: 2019-08-07
公开(公告)号: CN210690651U 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 笹野直哉;寺西宏真;酒井贵浩 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R1/073
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 朱丽娟;崔成哲
地址: 日本国京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 探针 单元
【说明书】:

本实用新型提供探针单元,能够支持小型化。探针单元具有:板状的探针,其在第1方向的两端分别具有第1触点部和第2触点部;壳体,其能够经由开口面的开口部在将第1触点部配置于外部的状态下将探针收纳在内部;摆动部件,其被支承为能够沿着第1方向和开口面的延伸方向相对于壳体摆动的状态,并且具有能够收纳第1触点部的收纳孔;以及施力部,其在第1方向上朝向初始位置将摆动部件向所述壳体进行施力,在开口面的延伸方向上朝向摆动部件的摆动范围的中心将摆动部件向壳体进行施力。

技术领域

本实用新型涉及探针单元。

背景技术

在照相机或液晶面板等电子部件模块中,一般而言,在该电子部件模块的制造工序中,进行导通检查和动作特性检查等。这些检查通过使用探针(probe pin)将用于与设置在电子部件模块上的主体基板连接的端子和检查装置的端子连接来进行。

作为这样的探针,存在专利文献1所记载的Pogo Pin类型的探针。该探针具有:针轴部(Plunger),其具有接触端子和与接触端子同轴地设置的针轴主体部;以及针筒部(barrel),其设置于针轴部的外周侧。

专利文献1:日本特开2016-142644号公报

实用新型内容

近年来,电子部件模块的小型化被推进,要求用于进行电子部件模块的检查的检查器械也支持小型化。一般而言,如上述探针那样的Pogo Pin类型的探针越进行小型化,则刚性越降低,容易损伤。因此,使用所述探针的检查器械有可能无法支持小型化。

本实用新型的课题在于提供一种能够支持小型化的探针单元。

本实用新型的一例的探针单元具有:

板状的探针,该板状的探针在第1方向的两端分别具有第1触点部和第2触点部;

壳体,其具有与所述第1方向交叉的开口面,能够经由所述开口面的开口部在将所述第1触点部配置于外部的状态下将所述探针收纳于内部;

摆动部件,其被支承为能够沿着所述第1方向和所述开口面的延伸方向相对于所述壳体摆动的状态,并且具有在所述第1方向上贯穿并能够收纳所述第1触点部的收纳孔;以及

施力部,其配置于所述壳体的内部,并且在所述第1方向上,朝向离所述开口面最远的初始位置将所述摆动部件向所述壳体进行施力,在所述开口面的延伸方向上,朝向所述摆动部件的摆动范围的中心将所述摆动部件向所述壳体进行施力。

根据上述探针单元,具有:板状的探针;以及摆动部件,其具有能够收纳探针的第1触点部的收纳孔。根据这样的结构,可以容易地实现能够支持小型化的探针单元。

附图说明

图1是示出本实用新型的一个实施方式的探针单元的立体图。

图2是沿着图1的II-II线的剖视图。

图3是沿着图1的III-III线的剖视图。

图4是示出图1的探针单元的摆动部件的立体图。

图5是图4的摆动部件的俯视图。

图6是图1的探针单元的放大俯视图。

图7是示出图1的探针单元的探针的立体图。

图8是示出图1的探针单元的变形例的立体图。

图9是沿着图8的IX-IX线的剖视图。

图10是沿着图8的VIII-VIII线的剖视图。

图11是图8的探针单元的放大俯视图。

图12是示出图8的探针单元的探针的立体图。

标号说明

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