[实用新型]一种防尘式键合剪切力测试机有效
申请号: | 201921281960.4 | 申请日: | 2019-08-08 |
公开(公告)号: | CN210347354U | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 韩力 | 申请(专利权)人: | 成都汉芯国科集成技术有限公司 |
主分类号: | G01N3/24 | 分类号: | G01N3/24;G01N3/02;G01N3/04 |
代理公司: | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人: | 马林中 |
地址: | 610000 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 防尘 式键合 剪切 测试 | ||
本实用新型公开了一种防尘式键合剪切力测试机,涉及剪切力测试机辅助设备技术领域,为了提高现有键合剪切力测试仪的防尘能力,包括测试箱和固定在测试箱中的测试仪,所述测试仪包括支撑座、高精检测台、固定在支撑座上的处理器和设置在处理器前端的显微放大镜,测试箱前壁开设有第一安装槽,第一安装槽内开设有第二安装槽,第二安装槽内开通有箱口,第一安装槽内通过转动副连接有箱门,箱门能填充整个第一安装槽并且箱门尺寸大于第二安装槽槽口尺寸,箱门上固定有能嵌入第二安装槽的密封板,密封板尺寸小于箱口尺寸。
技术领域
本实用新型涉及键合剪切力测试机技术领域,更具体的是涉及一种防尘式键合剪切力测试机。
背景技术
键合剪切力测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器,是填补国内空白的微电子和电子制造领域的重要仪器设备。该设备测试迅速、准确、适用面广、测试精度高,适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、军工等等,亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究,由于其检测的都是质量小精度高的对象,同时对检测可靠性要求和测试质量要求过高,需要进行防尘处理。
实用新型内容
本实用新型的目的在于:为了提高现有键合剪切力测试仪的防尘能力,本实用新型提供一种防尘式键合剪切力测试机。
本实用新型为了实现上述目的具体采用以下技术方案:
一种防尘式键合剪切力测试机,包括测试箱和固定在测试箱中的测试仪,所述测试仪包括支撑座、高精检测台、固定在支撑座上的处理器和设置在处理器前端的显微放大镜,测试箱前壁开设有第一安装槽,第一安装槽内开设有第二安装槽,第二安装槽内开通有箱口,第一安装槽内通过转动副连接有箱门,箱门能填充整个第一安装槽并且箱门尺寸大于第二安装槽槽口尺寸,箱门上固定有能嵌入第二安装槽的密封板,密封板尺寸小于箱口尺寸。
在以上技术方案基础上,处理器内设置有压力泵,压力泵连接有两根气压枪。
在以上技术方案基础上,第一安装槽上开有密封槽,密封板四周的箱门表面设置有能嵌入密封槽的密封胶条。
在以上技术方案基础上,第二安装槽侧壁与密封板之间设置有聚氨酯发泡胶条。
本实用新型的有益效果如下:
1、本实用新型中,整个箱门嵌入柜体前壁之中,并且设置了密封板,在柜门关闭时,密封板能与柜口和挡阶相互接触形成弯折缝隙,大大增加灰尘进入整个测试箱的难度。
2、本实用新型中,气压枪能进一步提高除尘效果。
3、本实用新型中,密封胶条和密封槽通过嵌入配合,达到有效密封隔尘效果,提高了整个机柜的防尘能力;聚氨酯发泡胶条一方面能减轻柜门关闭时产生的较大应力,防止挡阶由于碰撞而损坏,提高可靠性,另一方面与密封胶条形成双重密封,进一步提高整个机柜的防尘能力。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图,其中:
图1是本实用新型箱门打开后的结构正视图;
图2是本实用新型箱门紧闭后的结构侧视图。
附图标记:
1-支撑座,2-高精检测台,3-处理器,4-显微放大镜,5-测试箱,6-第一安装槽,7-第二安装糟,8-箱口,9-箱门,10-密封板,11-气压枪,12-密封胶条,13-聚氨酯发泡胶条。
具体实施方式
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