[实用新型]一种平整度测量结构

权利要求书

1.一种平整度测量结构，包括测量直尺(1)和楔形塞尺(2)，其特征在于，所述楔形塞尺(2)较厚的一端固定有立柱(21)，所述测量直尺(1)上设置有用于限制所述楔形塞尺(2)与所述测量直尺(1)相对位置的限位结构(3)。

2.根据权利要求1所述的一种平整度测量结构，其特征在于，所述立柱(21)远离所述楔形塞尺(2)的一端固定有宽度方向与所述楔形塞尺(2)长度方向平行的手持杆(211)。

3.根据权利要求1所述的一种平整度测量结构，其特征在于，所述限位结构(3)包括指示窗(31)和固定在所述指示窗(31)一侧的限位条(32)，所述限位条(32)设置有多根，且均呈平行设置。

4.根据权利要求3所述的一种平整度测量结构，其特征在于，竖直方向的两根所述限位条(32)之间固定有连接条(321)。

5.根据权利要求3所述的一种平整度测量结构，其特征在于，所述指示窗(31)靠近所述测量直尺(1)的一侧固定有用于限制所述指示窗(31)位置的限位板(33)。

6.根据权利要求3所述的一种平整度测量结构，其特征在于，所述指示窗(31)靠近所述限位条(32)的一端固定有放大镜(34)。

7.根据权利要求1所述的一种平整度测量结构，其特征在于，所述测量直尺(1)上开设有用于滑动所述限位结构(3)的滑轨(12)。

8.根据权利要求1所述的一种平整度测量结构，其特征在于，所述测量直尺(1)由多节刚尺(11)组成，相邻两节所述刚尺(11)之间设置有转轴(111)。

9.根据权利要求1所述的一种平整度测量结构，其特征在于，所述楔形塞尺(2)由耐磨型材料制成。