[实用新型]一种基于线性光耦匹配运放的检测电路

权利要求书

1.一种基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，包括：第一运放电路、精密运放电路、线性光耦电路、输出调整电路；其中，

所述第一运放电路，用于将温度传感器采集的温度电阻信号转变为第一电压信号；

所述精密运放电路，用于通过精密运放将第一电压信号转变为第二电压信号并输出；

所述线性光耦电路，用于通过光电耦合器U99将第二电压信号成比例调整为第三电压信号并输出；

所述输出调整电路，用于通过调整电阻比值将第三电压信号转变为标准电压信号并输出。

2.根据权利要求1所述的基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，所述第一运放电路包括电压放大芯片，其中，

所述电压放大芯片U94的同相输入端与反相输入端分别与温度传感器的同相端与反相端相应连接，

所述温度传感器的同相端还接入接地端，且与所述电压放大芯片U94的参考电压端在同一基准面上。

3.根据权利要求1或2所述的基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，所述精密运放电路包括运算放大芯片U93B、电容C243、电容C244、电容C236，用于将所述第一电压信号进行放大，输出所述第二电压信号。

4.根据权利要求1所述的基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，所述线性光耦电路还包括电阻R375、二极管D59、电容C245。

5.根据权利要求1所述的基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，所述输出调整电路包括运算放大芯片U97、电阻R380、电阻R381、电容C251、电容C252，以用于通过调整所述电阻R380与R381 的电阻比值输出标准电压信号。

6.根据权利要求5所述的基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，所述电阻R380与电阻R381的电阻比值为1:1。

7.根据权利要求1所述的基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，还包括基准电压源电路，其中，

所述基准电压源电路包括电容C233、电阻R372、电阻R373以及用于输出3V基准电压的电压基准芯片U91，用于为温度传感器的提供恒定的输入电流。

8.根据权利要求7所述的基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，还包括电压源电路，其中，

所述电压源电路包括第一电压源电路和第二电压源电路，所述第一电压源电路与第二电压源电路相连接，用于向所述电压基准芯片U91、电压放大芯片U94、运算放大芯片U93B、光电耦合器U99、运算放大芯片U97提供电压。

9.根据权利要求8所述的基于线性光耦匹配运放的检测电路，其特征在于，所述第一电压源电路包括外接24V电源、电压转换芯片U53、电感L17、电容CY1、二极管D30、二极管D31、电阻L14、电阻L15、电容C126、电容C130、电容C131，用于将24V直流电压转换为12V直流电压；

所述第二电压源电路包括电压转换芯片U56、电容C146、电容C144、电阻R256、电阻R257、电容C149、电容C140、电容C141、电容C147、电阻R258、二极管D33、电感L18、电阻R254、电阻R259、电容C142、电容C143，用于将12V直流电压转换为5V直流电压；

所述第一电压源电路和第二电压源电路的输出端均与多个电容并联接地。